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1. (WO2018043438) DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE, ET PROGRAMME DE MESURE OPTIQUE
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N° de publication : WO/2018/043438 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/030814
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 28.08.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 29.01.2018
CIB :
G01N 21/23 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/3581 (2014.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
21
Propriétés affectant la polarisation
23
Biréfringence
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
[IPC code unknown for G01N 21/3581]
Déposants :
学校法人慶應義塾 KEIO UNIVERSITY [JP/JP]; 東京都港区三田二丁目15番45号 15-45, Mita 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1088345, JP
Inventeurs :
渡邉 紳一 WATANABE, Shinichi; JP
岡野 真人 OKANO, Makoto; JP
Mandataire :
伊東 忠重 ITOH, Tadashige; JP
伊東 忠彦 ITOH, Tadahiko; JP
Données relatives à la priorité :
2016-16737029.08.2016JP
Titre (EN) OPTICAL MEASUREMENT DEVICE, OPTICAL MEASUREMENT METHOD, AND STRESS INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE OPTIQUE, PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE, ET PROGRAMME DE MESURE OPTIQUE
(JA) 光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法
Abrégé :
(EN) The internal state of a sample, and particularly the internal state of a polymer material containing additives, is easily measured in a non-destructive and non-contact manner. The optical measurement device comprises: a terahertz light source; a detector which detects terahertz light output from the terahertz light source and transmitted through or reflected by a sample; an optical element which is disposed between the position of the sample and the detector, and which changes the polarization of the terahertz light from the sample; a polarization control means for controlling the changes in polarization made by the optical element; and an analysis unit for detecting polarization components from the terahertz light detected by the detector, and calculating, on the basis of the detected polarization components, an orientation (θ) of the individual axis of the sample and the anisotropic refractive index (Δn).
(FR) Selon la présente invention, l'état interne d'un échantillon, et en particulier l'état interne d'un matériau polymère contenant des additifs, est facilement mesuré de manière non destructive et sans contact. La présente invention concerne un dispositif de mesure optique qui comprend : une source de lumière térahertz ; un détecteur qui détecte une lumière térahertz émise par la source de lumière térahertz et transmise à travers un échantillon ou réfléchie par un échantillon ; un élément optique qui est disposé entre la position de l'échantillon et le détecteur, et qui change la polarisation de la lumière térahertz de l'échantillon ; un moyen de commande de polarisation pour commander les changements de polarisation effectués par l'élément optique ; et une unité d'analyse pour détecter des composantes de polarisation de la lumière térahertz détectée par le détecteur, et calculer, sur la base des composantes de polarisation détectées, une orientation (θ) de l'axe individuel de l'échantillon et l'indice de réfraction anisotrope (Δn).
(JA) サンプル内部の状態、特に添加物を含む高分子材料の内部状態を非破壊・非接触で簡易に測定する。光学測定装置は、テラヘルツ光源と、前記テラヘルツ光源から出射されサンプルを透過または反射されたテラヘルツ光を検出する検出器と、サンプル位置と前記検出器の間に配置されて前記サンプルからの前記テラヘルツ光の偏光を変化させる光学素子と、前記光学素子による前記偏光の変化を制御する偏光制御手段と、前記検出器で検出されたテラヘルツ光から偏光成分を検出し、検出した前記偏光成分に基づいて前記サンプルの固有軸の向き(θ)と屈折率異方性(Δn)を算出する解析部と、を有する。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)