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1. (WO2018043251) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT, PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR
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N° de publication : WO/2018/043251 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/030159
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 23.08.2017
CIB :
G01B 21/00 (2006.01) ,G01B 21/32 (2006.01) ,G01M 99/00 (2011.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
32
pour mesurer la déformation dans un solide
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
99
Matière non prévue dans les autres groupes de la présente sous-classe
Déposants :
日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区芝五丁目7番1号 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
Inventeurs :
高田 巡 TAKADA Jun; JP
Mandataire :
下坂 直樹 SHIMOSAKA Naoki; JP
Données relatives à la priorité :
2016-16975131.08.2016JP
Titre (EN) DEFECT DETECTING DEVICE, DEFECT DETECTING METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT, PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT LISIBLE PAR ORDINATEUR
(JA) 欠陥検出装置、欠陥検出方法、及びコンピュータ読み取り可能記録媒体
Abrégé :
(EN) Provided are a defect detecting device, a defect detecting method and a program capable of suppressing an increase in cost and suppressing the occurrence of erroneous determinations in a defect determination of a structure. A defect detecting device 10 is provided with: an overall displacement measuring unit 11 which, on the basis of observed data output from an observation device which observes a target object, measures an overall movement displacement of the target object relative to an observation point as an overall displacement at set time intervals; a specific segment detecting unit 12 which detects a specific segment during which the measured overall displacement is in a specific state, from within a period during which observation is being carried out; a partial displacement measuring unit 13 which, on the basis of the observed data, measures displacements of a plurality of points established on the target object, during the detected specific segment, as partial displacements; and a defect detecting unit 14 which obtains at least one of a change over time and a spatial distribution of the partial displacements, and detects a defect in the target object on the basis of at least one of the obtained change over time and the spatial distribution of the partial displacements.
(FR) L'invention concerne un dispositif de détection de défaut, un procédé de détection de défaut et un programme capable de supprimer une augmentation de coût et de supprimer l'apparition de déterminations erronées dans une détermination de défaut d'une structure. Un dispositif de détection de défaut (10) comprend : une unité de mesure de déplacement global (11) qui, en se basant sur des données observées délivrées depuis un dispositif d'observation qui observe un objet cible, mesure un déplacement de mouvement global de l'objet cible par rapport à un point d'observation en tant que déplacement global à des intervalles de temps définis ; une unité de détection de segment spécifique (12) qui détecte un segment spécifique pendant lequel le déplacement global mesuré se trouve dans un état spécifique, à partir d'une période pendant laquelle l'observation est effectuée ; une unité de mesure de déplacement partiel (13) qui, en se basant sur les données observées, mesure les déplacements d'une pluralité de points établis sur l'objet cible, pendant le segment spécifique détecté, en tant que déplacements partiels ; et une unité de détection de défaut (14) qui obtient au moins un changement dans le temps ou une distribution dans l'espace des déplacements partiels, et détecte un défaut dans l'objet cible en se basant au moins sur le changement dans le temps ou la distribution dans l'espace obtenu(e) des déplacements partiels.
(JA) 構造物の欠陥判定において、コストの上昇及び誤判定の発生を抑制し得る、欠陥検出装置、欠陥検出方法、及びプログラムを提供する。 欠陥検出装置10は、対象物を観測する観測装置から出力された観測データに基づいて、観測点に対する対象物の全体の動きの変位を、全体変位として、設定された時間間隔で計測する、全体変位計測部11と、観測が行なわれている期間のうち、計測された全体変位が特定の状態である特定区間を検出する、特定区間検出部12と、観測データに基づいて、検出された特定区間における、対象物上に設定された複数点の変位を、部分変位として計測する、部分変位計測部13と、部分変位の経時変化及び空間分布のうち少なくとも一方を求め、求めた部分変位の経時変化及び空間分布のうち少なくとも一方に基づいて、対象物の欠陥を検出する、欠陥検出部14とを備えている。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)