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1. (WO2018042814) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE QUALITÉ DE SIGNAL, PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE VALEUR D'ÉVALUATION DE QUALITÉ DE SIGNAL, ET DISPOSITIF DE REPRODUCTION

Pub. No.:    WO/2018/042814    International Application No.:    PCT/JP2017/021684
Publication Date: Fri Mar 09 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Jun 13 01:59:59 CEST 2017
IPC: G11B 20/18
G11B 20/10
H03M 13/41
Applicants: SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
Inventors: SHIRAISHI, Junya
白石 淳也
Title: DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE QUALITÉ DE SIGNAL, PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE VALEUR D'ÉVALUATION DE QUALITÉ DE SIGNAL, ET DISPOSITIF DE REPRODUCTION
Abstract:
La présente invention permet d'obtenir une valeur d'évaluation de qualité de signal hautement précise pouvant avoir une corrélation élevée avec le taux d'erreur pour un signal de reproduction provenant d'un support d'enregistrement haute densité. À cet effet, une valeur estimée d'un taux d'erreur de sélection de chemin est calculée sur la base d'un chemin de probabilité maximale à chaque point temporel qui est un chemin de détection pour un décodage de probabilité maximale dans un système de décodage PRML et la distribution de différences métriques de chemin d'un second chemin ayant la seconde probabilité la plus élevée. En outre, le nombre moyen de bits d'erreur dans la détection d'erreur est calculé à partir du nombre de différences de bits entre le chemin de probabilité maximale lors de la sélection d'un chemin à chaque point temporel dans le décodage de probabilité maximale et le second chemin. Ensuite, un taux d'erreur binaire estimé est calculé à partir de ces résultats, et une valeur d'évaluation en fonction du taux d'erreur binaire estimé est générée.