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1. (WO2018042535) ÉCHANTILLON POUR MESURE DE PARTICULE, PROCÉDÉ DE MESURE DE PARTICULE ET DISPOSITIF DE MESURE DE PARTICULE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2018/042535 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/075443
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 31.08.2016
CIB :
G01B 15/00 (2006.01) ,G01N 15/02 (2006.01) ,G01N 15/06 (2006.01) ,G01N 23/225 (2006.01) ,G01Q 80/00 (2010.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
15
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de radiations d'ondes ou de particules
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
02
Recherche de la dimension ou de la distribution des dimensions des particules
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
06
Recherche de la concentration des suspensions de particules
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
225
en utilisant une microsonde électronique ou ionique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
80
Applications des techniques de sonde à balayage, autres que les techniques SPM
Déposants :
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs :
橋詰 富博 HASHIZUME Tomihiro; JP
安武 正敏 YASUTAKE Masatoshi; JP
永田 真斗 NAGATA Sanato; JP
Mandataire :
ポレール特許業務法人 POLAIRE I.P.C.; 東京都中央区日本橋茅場町二丁目13番11号 13-11, Nihonbashikayabacho 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030025, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SAMPLE FOR PARTICLE MEASUREMENT, PARTICLE MEASUREMENT METHOD, AND PARTICLE MEASUREMENT DEVICE
(FR) ÉCHANTILLON POUR MESURE DE PARTICULE, PROCÉDÉ DE MESURE DE PARTICULE ET DISPOSITIF DE MESURE DE PARTICULE
(JA) 粒子計測用試料、粒子計測方法および粒子計測装置
Abrégé :
(EN) To provide a sample for particle measurement that makes it possible to evaluate the three-dimensional shape and fine particle type of a fine particle, a sample for particle measurement is provided with a substrate, an isolated fine particle to be measured (144-1) that is disposed on the substrate, and an isolated standard fine particle (143-1) that is disposed on the substrate in the vicinity of the isolated fine particle to be measured.
(FR) Afin de fournir un échantillon pour mesure de particule qui permet d'évaluer la forme tridimensionnelle et le type de particule fine d'une particule fine, un échantillon pour mesure de particule est pourvu d'un substrat, d'une particule fine isolée à mesurer (144-1) qui est disposée sur le substrat, et d'une particule fine standard isolée (143-1) qui est disposée sur le substrat à proximité de la particule fine isolée à mesurer.
(JA) 微粒子の三次元形状や微粒子種の評価が可能な粒子計測用試料を提供するために、基板と、基板の上に配置された孤立被測定微粒子(144-1)と、基板の上であって、孤立被測定微粒子の近傍に配置された孤立標準微粒子(143-1)と、を有する粒子計測用試料とする。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)