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1. (WO2018042516) PROCÉDÉ DE TEST DE COMMUTATEUR MÉCANIQUE ET SON DISPOSITIF DE TEST
Données bibliographiques PCT
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N° de publication :
WO/2018/042516
N° de la demande internationale :
PCT/JP2016/075328
Date de publication :
08.03.2018
Date de dépôt international :
30.08.2016
CIB :
H01H 33/00
(2006.01) ,
G01R 31/327
(2006.01) ,
G01R 31/333
(2006.01)
H
ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
H
INTERRUPTEURS ÉLECTRIQUES; RELAIS; SÉLECTEURS, DISPOSITIFS DE PROTECTION
33
Interrupteurs pour haute tension ou courant fort comportant des moyens d'extinction ou de prévention des arcs
G
PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
327
Essai d'interrupteurs de circuit, d'interrupteurs ou de disjoncteurs
G
PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
327
Essai d'interrupteurs de circuit, d'interrupteurs ou de disjoncteurs
333
Essai du pouvoir de coupure des disjoncteurs à haute tension
Déposants :
株式会社 東芝 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
[JP/JP]; 東京都港区芝浦一丁目1番1号 1-1, Shibaura 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058001, JP
Inventeurs :
橋本 優平 HASHIMOTO, Yuhei
; JP
宮崎 健作 MIYAZAKI, Kensaku
; JP
小山 博 KOYAMA, Hiroshi
; JP
金谷 和長 KANAYA, Kazuhisa
; JP
網田 芳明 OHDA, Yoshiaki
; JP
Mandataire :
木内 光春 KIUCHI, Mitsuharu
; JP
Données relatives à la priorité :
Titre
(EN)
MECHANICAL SWITCH TESTING METHOD AND TESTING DEVICE THEREFOR
(FR)
PROCÉDÉ DE TEST DE COMMUTATEUR MÉCANIQUE ET SON DISPOSITIF DE TEST
(JA)
機械式開閉器の試験方法及びその試験装置
Abrégé :
(EN)
Provided are a mechanical switch testing method and a testing device therefor for verifying the interruption capability of a mechanical switch used in a direct current circuit breaker. The testing method uses the testing device, which is equipped with a current source circuit A and a voltage source circuit B, to verify the interruption capability of the mechanical switch 1 used in the direct current circuit breaker, the method comprising supplying a current from the current source circuit A to the mechanical switch 1, opening the mechanical switch 1, stopping the current supply from the current source circuit A to the mechanical switch 1, and, after a predetermined time has elapsed, applying a return voltage from the voltage source circuit B to the mechanical switch 1.
(FR)
L'invention concerne un procédé de test de commutateur mécanique et son dispositif de test pour vérifier la capacité d'interruption d'un commutateur mécanique utilisé dans un disjoncteur à courant continu. Le procédé de test utilise le dispositif de test, qui est équipé d'un circuit de source de courant A et d'un circuit de source de tension B, pour vérifier la capacité d'interruption du commutateur mécanique 1 utilisé dans le disjoncteur à courant continu, le procédé consistant à fournir un courant à partir du circuit de source de courant A au commutateur mécanique 1, à ouvrir le commutateur mécanique 1, à arrêter l'alimentation en courant du circuit de source de courant A au commutateur mécanique 1, et, après qu'un temps prédéterminé se soit écoulé, à appliquer une tension de retour du circuit de source de tension B au commutateur mécanique 1.
(JA)
直流遮断器に用いられる機械式開閉器の遮断性能を検証する機械式開閉器の試験方法及びその試験装置を提供する。電流源回路Aと電圧源回路Bとを備える試験装置を用いて遮断性能を検証するための直流遮断器に用いられる機械式開閉器1の試験方法であって、電流源回路Aから機械式開閉器1に電流を供給し、機械式開閉器1を開にし、電流源回路Aから機械式開閉器1への電流供給を停止し、所定時間経過後に電圧源回路Bから機械式開閉器1に回復電圧を印加する。
États désignés :
AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication :
japonais (
JA
)
Langue de dépôt :
japonais (
JA
)