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1. (WO2018041761) DISPOSITIF D'ANALYSE DE SURFACE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE L'ÉLASTICITÉ D'UNE SURFACE DE RÉCEPTION
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N° de publication : WO/2018/041761 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/071510
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 28.08.2017
CIB :
A61B 5/00 (2006.01) ,G01N 3/00 (2006.01) ,G01N 33/483 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
5
Mesure servant à établir un diagnostic; Identification des individus
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
483
Analyse physique de matériau biologique
Déposants :
KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven, NL
Inventeurs :
PELSSERS, Eduard Gerard Marie; NL
HENDRIKS, Cornelis Petrus; NL
HILGERS, Achim; NL
JOHNSON, Mark Thomas; NL
VAN DEN ENDE, Daan Anton; NL
VAN DE MOLENGRAAF, Roland Alexander; NL
Mandataire :
MARSMAN, Albert, Willem; NL
DE HAAN, Poul, Erik; NL
Données relatives à la priorité :
16186693.431.08.2016EP
Titre (EN) SURFACE ANALYSIS DEVICE AND METHOD FOR ANALYSING ELASTICITY OF A RECEIVING SURFACE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE SURFACE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE L'ÉLASTICITÉ D'UNE SURFACE DE RÉCEPTION
Abrégé :
(EN) The invention provides a surface analysis device for application to a receiving surface to enable analysis of at least one measure of an elasticity of said surface across multiple different linear stretches or sections of the surface. The device includes a two- dimensional arrangement of actuators and sensors, comprising at least one actuating element, at least one sensing element, and at least one further sensing or actuating element. Selected sets of two or more of these elements are activated together by a controller, each set including at least one actuator and one sensor, to thereby obtain a measure of elasticity between each actuator and sensor pair in the set. Elasticity measures are obtained based on stimulating a deformation in the receiving surface at the actuator site, and measuring a resultant pressure and/or force exerted by the receiving surface at a further displaced point. Sensors may monitor a change in the exerted pressure and/or force for example.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse de surface destiné à être appliqué sur une surface de réception pour permettre l'analyse d'au moins une mesure d'une élasticité de ladite surface à travers de multiples différentes étendues ou sections linéaires de la surface. Le dispositif comprend un agencement bidimensionnel d'actionneurs et de capteurs, comprenant au moins un élément d'actionnement, au moins un élément de détection et au moins un autre élément de détection ou d'actionnement. Des ensembles sélectionnés d'au moins deux de ces éléments sont activés ensemble par un dispositif de commande, chaque ensemble comprenant au moins un actionneur et un capteur, pour obtenir ainsi une mesure d'élasticité entre chaque actionneur et paire de capteurs dans l'ensemble. Des mesures d'élasticité sont obtenues sur la base de la stimulation d'une déformation dans la surface de réception au niveau du site actionneur, et la mesure d'une pression et/ou d'une force résultante exercée par la surface de réception à un autre point déplacé. Des capteurs peuvent surveiller un changement de la pression et/ou de la force exercée par exemple.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)