WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2018041423) COMMANDE ET SURVEILLANCE D'UN PROCESSUS POUR FABRIQUER UN PRODUIT CHIMIQUE, PHARMACEUTIQUE OU BIOTECHNOLOGIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/041423    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/061303
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 11.05.2017
CIB :
G05B 19/418 (2006.01)
Déposants : SARTORIUS STEDIM BIOTECH GMBH [DE/DE]; August-Spindler-Str. 11 37079 Göttingen (DE)
Inventeurs : GRIMM, Christian; (DE).
BECKER, Mario; (DE).
BÖTTCHER, Lars; (DE).
THORSTEN, Adams; (DE)
Mandataire : MÜLLER-BORÉ & PARTNER PATENTANWÄLTE PARTG MBB; Friedenheimer Brücke 21 80639 München (DE)
Données relatives à la priorité :
16001899.0 31.08.2016 EP
Titre (EN) CONTROLLING AND MONITORING A PROCESS TO PRODUCE A CHEMICAL, PHARMACEUTICAL OR BIOTECHNOLOGICAL PRODUCT
(FR) COMMANDE ET SURVEILLANCE D'UN PROCESSUS POUR FABRIQUER UN PRODUIT CHIMIQUE, PHARMACEUTIQUE OU BIOTECHNOLOGIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A computer system and computer-implemented method are described for controlling and monitoring a process to produce a chemical, pharmaceutical or biotechnological product, the method comprising: providing a database, the database storing sets of process parameters to control and monitor respective ones of a plurality of processes performed in order to produce products, wherein each of the stored sets of process parameters is associated with a successful trajectory of a respective one of the processes performed according to the respective set process parameters, wherein each successful trajectory is a time-based profile of measurements recorded during performance of the respective process; receiving a set of characterizing process parameters that characterize the process; identifying a first set process parameters from the stored sets of process parameters, the first set of process parameters having a specified degree of similarity to the set of characterizing process parameters, wherein the first set of process parameters is associated with a first successful trajectory, controlling and monitoring the process using the first successful trajectory, comprising: recording measurements of the process; estimating a trajectory of the process based on the recorded measurements.
(FR)La présente invention se rapporte à un système informatique et à un procédé mis en œuvre par ordinateur qui permettent de commander et de surveiller un processus pour fabriquer un produit chimique, pharmaceutique ou biotechnologique, le procédé consistant : à utiliser une base de données, la base de données mémorisant des ensembles de paramètres de processus pour commander et surveiller des processus respectifs choisis parmi plusieurs processus exécutés afin de fabriquer des produits, chacun des ensembles de paramètres de processus mémorisés étant associé à une trajectoire réussie d'un processus respectif parmi les processus exécutés selon l'ensemble de paramètres de processus respectif, chaque trajectoire réussie étant un profil temporel de mesures enregistrées lors de l'exécution du processus respectif ; à recevoir un ensemble de paramètres de processus de caractérisation qui caractérisent le processus ; à identifier un premier ensemble de paramètres de processus à partir des ensembles de paramètres de processus mémorisés, le premier ensemble de paramètres de processus ayant un degré de similarité spécifié avec l'ensemble de paramètres de processus de caractérisation. Le premier ensemble de paramètres de processus est associé à une première trajectoire réussie, la commande et la surveillance du processus à l'aide de la première trajectoire réussie consistant : à enregistrer des mesures du processus ; à évaluer une trajectoire du processus sur la base des mesures enregistrées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)