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1. (WO2018040327) SURVEILLANCE DE DÉGRADATION TDDB SUR PUCE ET CIRCUIT D'AVERTISSEMENT DE DÉFAILLANCE POUR SOC

Pub. No.:    WO/2018/040327    International Application No.:    PCT/CN2016/107700
Publication Date: Fri Mar 09 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Nov 30 00:59:59 CET 2016
IPC: G01R 31/14
Applicants: FIFTH ELECTRONICS RESEARCH INSTITUTE OF MINISTRY OF INDUSTRY AND INFORMATION TECHNOLOGY
工业和信息化部电子第五研究所
Inventors: CHEN, Yiqiang
陈义强
LEI, Dengyun
雷登云
EN, Yunfei
恩云飞
FANG, Wenxiao
方文啸
HAO, Lichao
郝立超
HUANG, Yun
黄云
HOU, Bo
侯波
LU, Yudong
陆裕东
Title: SURVEILLANCE DE DÉGRADATION TDDB SUR PUCE ET CIRCUIT D'AVERTISSEMENT DE DÉFAILLANCE POUR SOC
Abstract:
La présente invention concerne un circuit de surveillance de dégradation de TDDB sur puce et un circuit d'avertissement de défaillance pour un SoC. Un module de circuit de commande (200) convertit des signaux Q1 et Q0 en signaux de commande d'état de commutation et les délivre à un module de conversion numérique de dégradation de performance TDDB (300). Un tube MOS d'un premier circuit de tube MOS dans le module de conversion numérique de dégradation de performance TDDB (300) se trouve dans un état de contrainte d'une tension de puissance, et un tube MOS d'un second circuit de tube MOS est dans un état de non contrainte. Le premier circuit de tube MOS et le second circuit de tube MOS délivrent respectivement une première valeur de fréquence et une seconde valeur de fréquence à un module de sélection de sortie (400) sous la commande des signaux de commande d'état de commutation. Le module de sélection de sortie (400) délivre la première valeur de fréquence produite par le module de conversion numérique de dégradation de performance TDDB (300) à un compteur B pour l'enregistrement, ou délivre la seconde valeur de fréquence à un compteur a pour l'enregistrement. Un contre-module (500) compare la première valeur de fréquence à la seconde valeur de fréquence et détermine le degré de dégradation d'une performance TDDB. Le circuit présente une structure simple, un processus de dégradation des performances TDDB peut être surveillé au moyen de sorties, et les performances TDDB peuvent être rapidement prévenues.