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1. (WO2018040118) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT DE MURA DE LCD TFT BASÉ SUR UNE GPU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2018/040118 N° de la demande internationale : PCT/CN2016/098265
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 07.09.2016
CIB :
G02F 1/13 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
F
DISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
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Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source de lumière indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
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pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
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basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
Déposants :
武汉精测电子集团股份有限公司 WUHAN JINGCE ELECTRONIC GROUP CO., LTD. [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 洪山区书城路48#(北港工业园)1栋11层 F11, Buiding 1, No.48, Shucheng Road (Beigang Industrial Park), Hongshan District Wuhan, Hubei 430070, CN
Inventeurs :
鲁方波 LU, Fangbo; CN
姚峰 YAO, Feng; CN
邓标华 DENG, Biaohua; CN
陈凯 CHEN, Kai; CN
沈亚非 SHEN, Yafei; CN
Mandataire :
武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) WUHAN DONGYU PATENT AGENCY; 中国湖北省武汉 洪山区珞喻路1037号东一楼340 Room340, Building East One, Huazhong University of Science and Technology, No.1037 Luo Yu Road, Hongshan Wuhan, Hubei 430074, CN
Données relatives à la priorité :
201610761614.029.08.2016CN
Titre (EN) GPU-BASED TFT-LCD MURA DEFECT DETECTION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT DE MURA DE LCD TFT BASÉ SUR UNE GPU
(ZH) 一种基于GPU的TFT-LCD Mura缺陷检测的方法
Abrégé :
(EN) A GPU-based TFT-LCD Mura defect detection method, comprising the following steps: (1) establishing, according to original image data, a dual second-order regression diagnosis model based on a studentized residual, and obtaining dual second-order regression background image data; (2) obtaining an influence quantity of each group of data points on a fitted value according to the original image data and the dual second-order regression background image data; (3) removing outliers and influential points from the original image data according to the influence quantity to obtain a new pixel point set; (4) establishing a dual N-order polynomial surface fitting model according to the new pixel point set, and obtaining dual N-order background image data; (5) obtaining a residual image R according to the dual N-order background image data and the original image data, and performing threshold segmentation on the residual image to obtain a threshold segmented image; and (6) performing morphological processing on the threshold segmented image to obtain a corroded and expanded image, thereby effectively segmenting the Mura defect of non-uniform brightness distribution.
(FR) La présente invention concerne un procédé de détection de défaut de Mura de LCD TFT basé sur une GPU, qui comprend les étapes suivantes : (1) l'établissement, selon des données d'image d'origine, d'un double modèle de diagnostic de régression de second ordre basé sur un résidu studentisé, et l'obtention de doubles données d'image d'arrière-plan de régression de second ordre; (2) l'obtention d'une grandeur d'influence de chaque groupe de points de données sur une valeur ajustée selon les données d'image d'origine et les doubles données d'image d'arrière-plan de régression de second ordre; (3) la suppression d'observations aberrantes et de points influents dans ces données d'image d'origine selon la grandeur d'influence pour obtenir un nouvel ensemble de points de pixel; (4) l'établissement d'un double modèle d'ajustement de surface polynomiale d'ordre N selon le nouvel ensemble de points de pixel, et l'obtention de doubles données d'image d'arrière-plan d'ordre N; (5) l'obtention d'une image résiduelle R selon les doubles données d'image d'arrière-plan d'ordre N et lesdites données d'image d'origine, et la réalisation d'une segmentation de seuil sur l'image résiduelle pour obtenir une image segmentée de seuil; et (6) la réalisation d'un traitement morphologique sur l'image segmentée de seuil pour obtenir une image corrodée et étendue, ce qui permet de segmenter efficacement le défaut de Mura de distribution de luminosité non uniforme.
(ZH) 一种基于GPU的TFT-LCD Mura缺陷检测的方法,包括下述步骤:(1)基于原始图像数据建立基于学生化残差的双二阶回归诊断模型,获得双二阶回归背景图像数据;(2)根据原始图像数据和所述双二阶回归背景图像数据获得各组数据点对拟合值的影响量;(3)根据所述影响量排除原始图像数据中的奇异点和影响点,获得新的像素点集;(4)根据新的像素点集建立双N阶多项式曲面拟合模型,获得双N阶背景图像数据;(5)根据所述双N阶背景图像数据和原始图像数据获得残差图像R并对残差图像进行阈值分割处理,获得阈值分割图像;(6)对阈值分割图像进行形态学处理,获得腐蚀膨胀后的图像,实现对亮度分布不均的Mura缺陷进行有效的分割。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)