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1. (WO2018040115) DÉTERMINATION DE L'ÉTAT DÉFECTUEUX D'UN DISPOSITIF DE STOCKAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2018/040115 N° de la demande internationale : PCT/CN2016/098142
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 05.09.2016
CIB :
G06F 11/30 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
30
Surveillance du fonctionnement
Déposants :
WANG, Yantao [CN/CN]; CN (SC)
TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL) [SE/SE]; Stockholm SE-164 83, SE
Inventeurs :
WANG, Yantao; CN
LIU, Jing; CN
SHEN, Lijun; CN
Mandataire :
KING & WOOD MALLESONS; 20th Floor, East Tower, World Financial Centre, No. 1 Dongsanhuan Zhonglu, Chaoyang District Beijing 100020, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETERMINATION OF FAULTY STATE OF STORAGE DEVICE
(FR) DÉTERMINATION DE L'ÉTAT DÉFECTUEUX D'UN DISPOSITIF DE STOCKAGE
Abrégé :
(EN) Disclosed are a method and electronic device for determining a faulty state of a storage device. A first time length of a first access to a set of blocks of a storage device is determined. Then, the first time length of the access and a threshold time length are compared. If the first time length exceeds the threshold time length, it is determined that the blocks are in a potential faulty state.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif électronique pour déterminer un état défectueux d'un dispositif de stockage. L'invention concerne aussi une première durée d'un premier accès à un ensemble de blocs d'un dispositif de stockage est déterminée. Ensuite, la première durée de l'accès et une durée seuil sont comparées. Si la première longueur de temps dépasse la durée seuil, il est déterminé que les blocs sont dans un état défectueux potentiel.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)