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1. (WO2018039141) STRUCTURE DE SPECTROSCOPIE RAMAN À SURFACE AMÉLIORÉE (SERS) POUR UNE SORTIE À DOUBLE RÉSONANCE
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N° de publication : WO/2018/039141 N° de la demande internationale : PCT/US2017/047853
Date de publication : 01.03.2018 Date de dépôt international : 21.08.2017
CIB :
G01N 21/55 (2014.01) ,G01J 3/44 (2006.01) ,G01N 21/47 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
55
Réflexion spéculaire
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28
Etude du spectre
44
Spectrométrie Raman; Spectrométrie par diffusion
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47
Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
Déposants : OPTOKEY, INC.[US/US]; 3944 Trust Way, Building B Hayward, CA 94545, US
Inventeurs : YE, Jian; CN
CHEN, Fangqing, Frank; US
CHEBI, Robert, P.; US
Mandataire : LIMBACH, Alan, A.; US
Données relatives à la priorité :
15/682,39821.08.2017US
62/378,57523.08.2016US
Titre (EN) SURFACE ENHANCED RAMAN SPECTROSCOPY (SERS) STRUCTURE FOR DOUBLE RESONANCE OUTPUT
(FR) STRUCTURE DE SPECTROSCOPIE RAMAN À SURFACE AMÉLIORÉE (SERS) POUR UNE SORTIE À DOUBLE RÉSONANCE
Abrégé :
(EN) A Raman spectroscopy structure includes a substrate, a conductive layer formed on the substrate, a dielectric layer formed on the conductive layer, wherein the dielectric layer has a first thickness, and spaced apart conductive structures formed on the dielectric layer having a periodicity. Each of the conductive structures has a second thickness and a shape that defines a localized surface plasmonic resonance (LSPR) frequency mode having a width. The dielectric layer defines two Fabry-Perot frequency modes that overlap within the width of the LSPR frequency mode. A desirable double resonance is achieved by two frequency Fabry-Perot modes overlapping within the width of a single frequency plasmonic mode.
(FR) L'invention concerne une structure de spectroscopie Raman qui comprend un substrat ; une couche conductrice formée sur le substrat ; une couche diélectrique formée sur la couche conductrice, la couche diélectrique présentant une première épaisseur ; et des structures conductrices espacées, formées sur la couche diélectrique et présentant une périodicité. Chacune des structures conductrices présente une seconde épaisseur et une forme qui définit un mode en fréquence de résonance plasmonique de surface localisée (LSPR) présentant une largeur. La couche diélectrique définit deux modes en fréquence de Fabry-Pérot qui se chevauchent dans la largeur du mode en fréquence LSPR. Une double résonance souhaitable est obtenue par deux modes de Fabry-Pérot en fréquence se chevauchant dans la largeur d'un mode plasmonique à fréquence unique.
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)