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1. (WO2018039137) GESTION DE BASE DE DONNÉES AU MOYEN D'UN SPECTROMÈTRE DE MASSE À TEMPS DE VOL À DÉSORPTION/IONISATION LASER ASSISTÉ PAR MATRICE
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N° de publication : WO/2018/039137 N° de la demande internationale : PCT/US2017/047840
Date de publication : 01.03.2018 Date de dépôt international : 21.08.2017
CIB :
G01N 21/63 (2006.01) ,G01N 33/48 (2006.01) ,H01J 49/04 (2006.01) ,H01J 49/16 (2006.01) ,H01J 49/40 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
04
Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
10
Sources d'ions; Canons à ions
16
utilisant une ionisation de surface, p.ex. émission thermo-ionique ou photo-électrique
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26
Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
34
Spectromètres dynamiques
40
Spectromètres à temps de vol
Déposants :
JO, Eung, Joon [KR/US]; US
JO, Yohahn [US/US]; US
Inventeurs :
JO, Eung, Joon; US
JO, Yohahn; US
Mandataire :
SHERR, Daniel, H.; US
Données relatives à la priorité :
15/682,25121.08.2017US
62/377,76822.08.2016US
Titre (EN) DATABASE MANAGEMENT USING A MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER
(FR) GESTION DE BASE DE DONNÉES AU MOYEN D'UN SPECTROMÈTRE DE MASSE À TEMPS DE VOL À DÉSORPTION/IONISATION LASER ASSISTÉ PAR MATRICE
Abrégé :
(EN) Λη apparatus, method, or computer program. Spectrometer lest data of a sample may be received. The received test data may be matched to a reference library to determine characteristic information of the sample by correlating the test data to at least one of a plurality of reference data in the reference library. The updating the reference library with the test data, as new reference data based is on the correlating. The matching may be performed in a cloud computing system.
(FR) L'invention concerne un appareil, un procédé ou un programme informatique. Des données de test de spectromètre d'un échantillon peuvent être reçues. Les données de test reçues peuvent être mises en correspondance avec une bibliothèque de référence afin de déterminer des informations caractéristiques de l'échantillon par corrélation des données de test à au moins une donnée parmi une pluralité de données de référence dans la bibliothèque de référence. La mise à jour de la bibliothèque de référence avec les données de test, en tant que nouvelles données de référence est basée sur la corrélation. La mise en correspondance peut être effectuée dans un système informatique en nuage.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)