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1. (WO2018038251) DISPOSITIF D'INSPECTION DE MATIÈRE ÉTRANGÈRE, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE MATIÈRE ÉTRANGÈRE, SYSTÈME D'INSPECTION DE CONTAMINATION PAR MATIÈRE ÉTRANGÈRE ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CONTAMINATION PAR MATIÈRE ÉTRANGÈRE

Pub. No.:    WO/2018/038251    International Application No.:    PCT/JP2017/030494
Publication Date: Fri Mar 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat Aug 26 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 21/88
G01N 21/64
G01N 21/85
Applicants: MITSUI KINZOKU INSTRUMENTATIONS TECHNOLOGY CORPORATION
三井金属計測機工株式会社
DIC CORPORATION
DIC株式会社
Inventors: HAYASE Hiroshi
早瀬 広志
SAKURAI Naoto
櫻井 直人
Title: DISPOSITIF D'INSPECTION DE MATIÈRE ÉTRANGÈRE, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE MATIÈRE ÉTRANGÈRE, SYSTÈME D'INSPECTION DE CONTAMINATION PAR MATIÈRE ÉTRANGÈRE ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CONTAMINATION PAR MATIÈRE ÉTRANGÈRE
Abstract:
Le problème décrit par la présente invention est de fournir un dispositif d'inspection de matière étrangère, un procédé d'inspection de matière étrangère, un système d'inspection de contamination par matière étrangère, et un procédé d'inspection de contamination par matière étrangère, grâce auxquels il est possible d'améliorer la précision de détection de matière étrangère, et d'empêcher un objet à inspecter, tel qu'un produit alimentaire, d'être distribué à l'état contaminé par une matière étrangère résultant d'un élément en résine tel qu'une brosse de nettoyage, un chiffon de nettoyage (tissu) ou des gants en caoutchouc portés par un opérateur. La solution selon l'invention porte sur une lumière d'éclairage comportant au moins une longueur d'onde qui excite un pigment émettant dans le proche infrarouge compris dans une matière étrangère rayonnée sur un objet à inspecter, des informations d'émission de lumière fondées sur la lumière émise dans le proche infrarouge qui est émise lorsque le pigment émettant dans le proche infrarouge est excité sont acquises, et la présence ou l'absence de matière étrangère est évaluée sur la base des informations d'émission de lumière.