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1. (WO2018036211) APPAREIL DE COMPENSATION DE DÉRIVE DE TEMPÉRATURE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE MICRO-SIGNAUX

Pub. No.:    WO/2018/036211    International Application No.:    PCT/CN2017/084229
Publication Date: Fri Mar 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat May 13 01:59:59 CEST 2017
IPC: A61B 5/0205
A61B 5/1455
G05B 19/042
H03F 3/68
Applicants: ANYCHECK INFORMATION TECHNOLOGIES CO. LTD.
深圳市前海安测信息技术有限公司
Inventors: ZHANG, Guanjing
张贯京
GAO, Weiming
高伟明
TANG, Zhaoyue
唐昭月
Title: APPAREIL DE COMPENSATION DE DÉRIVE DE TEMPÉRATURE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE MICRO-SIGNAUX
Abstract:
L'invention concerne un appareil de compensation de dérive de température (1) et un procédé de mesure de micro-signaux. L'appareil (1) comprend un premier amplificateur différentiel (11), un deuxième amplificateur différentiel (12), un troisième amplificateur différentiel (13), une puce d'amplification de CAN (14), et un micro-ordinateur monopuce (15). Le premier amplificateur différentiel (11) met en oeuvre un calcul différentiel et une amplification sur un premier micro-signal et un second micro-signal pour obtenir un premier signal différentiel. Le deuxième amplificateur différentiel (12) met en oeuvre un calcul différentiel et une amplification sur un troisième micro-signal et un quatrième micro-signal pour obtenir un second signal différentiel. Le troisième amplificateur différentiel (13) met en oeuvre un calcul différentiel et une amplification sur le premier signal différentiel et le second signal différentiel pour obtenir un signal de caractéristique de mesure. La puce d'amplification de CAN (14) amplifie le signal de caractéristique de mesure et délivre en sortie ensuite le signal de caractéristique de mesure amplifié au micro-ordinateur monopuce (15). Le produit d'un coefficient de température du premier amplificateur différentiel (11) et d'un coefficient de température du troisième amplificateur différentiel (13) est égal en valeur mais opposé en signe à un coefficient de température d'une puce de circuit d'amplification (141). L'appareil (1) et le procédé peuvent éliminer une interférence avec des micro-signaux provoquée par une dérive de température générée par un circuit de mesure, et améliorer la précision de mesure des micro-signaux.