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1. (WO2018035515) PILE D'ESSAI AYANT UN TRADUCTEUR DE TRANCHE ET UNE INTERFACE DE RAIDISSEMENT, SYSTÈMES ET PROCÉDÉS ASSOCIÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/035515    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/047756
Date de publication : 22.02.2018 Date de dépôt international : 21.08.2017
CIB :
G01R 31/26 (2014.01), B23K 31/02 (2006.01), G01R 1/04 (2006.01), G01R 1/073 (2006.01), G01R 3/00 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : TRANSLARITY, INC. [US/US]; 46575 Fremont Blvd. Fremont, CA 94538 (US)
Inventeurs : LANE, Christopher, T.; (US)
Mandataire : MIHAILOVIC, Jadran, Adrian; (US)
Données relatives à la priorité :
62/377,241 19.08.2016 US
Titre (EN) TEST STACK HAVING WAFER TRANSLATOR AND STIFFENING INTERFACE, AND ASSOCIATED SYSTEMS AND METHODS
(FR) PILE D'ESSAI AYANT UN TRADUCTEUR DE TRANCHE ET UNE INTERFACE DE RAIDISSEMENT, SYSTÈMES ET PROCÉDÉS ASSOCIÉS
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods for testing semiconductor wafers are disclosed herein. In one embodiment, an apparatus for testing dies of a semiconductor wafer includes: a wafer translator having a wafer-side configured to face the wafer, and an inquiry-side facing away from the wafer-side. The wafer-side carries wafer-side contact structures, and the inquiry-side carries inquiry-side contact structures. The apparatus also includes a stiffening interface (SIF) board having a first side facing the inquiry-side of the wafer translator, and a second side facing away from the first side. The apparatus also includes a tester translator interface (TTI) board having a first face facing the second side of the SIF, and a second face facing away from the first face.
(FR)La présente invention concerne des systèmes et des procédés qui permettent d'essayer des tranches de semi-conducteur. Dans un mode de réalisation, un appareil d'essai de matrices de tranche à semi-conducteur comprend : un traducteur de tranches ayant un côté tranche conçu pour faire face à la tranche et un côté d'interrogation orienté à l'opposé du côté tranche. Le côté tranche porte des structures de contact de côté tranche, et le côté d'interrogation porte des structures de contact de côté d'interrogation. L'appareil comprend également une carte d'interface de raidissement (SIF) ayant un premier côté faisant face au côté interrogation du traducteur de tranche, et un second côté opposé au premier côté. L'appareil comprend également une carte d'interface de traducteur d'appareil d'essai (TTI) ayant une première face faisant face au second côté de la SIF et une seconde face opposée à la première face.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)