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1. (WO2018033657) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR MESURER DES ÉCHANTILLONS FERROÉLECTRIQUES ET/OU PIÉZOÉLECTRIQUES
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N° de publication : WO/2018/033657 N° de la demande internationale : PCT/ES2017/070581
Date de publication : 22.02.2018 Date de dépôt international : 11.08.2017
CIB :
G01Q 60/30 (2010.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC)[ES/ES]; C/ Serrano, 117 28006 Madrid, ES
Inventeurs : RODRÍGUEZ GÓMEZ, Andrés; ES
GICH GARCÍA, Marti; ES
PUIG MOLINA, María Teresa; ES
OBRADORS BERENGUER, Francesc Xavier; ES
CARRETERO GENEVRIER, Adrien; ES
Mandataire : PONS ARIÑO, Ángel; ES
Données relatives à la priorité :
16382398.219.08.2016EP
Titre (EN) DEVICE AND METHOD FOR MAPPING FERROELECTRIC AND/OR PIEZOELECTRIC SAMPLES
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR MESURER DES ÉCHANTILLONS FERROÉLECTRIQUES ET/OU PIÉZOÉLECTRIQUES
(ES) DISPOSITIVO Y MÉTODO PARA MEDIR MUESTRAS FERROELÉCTRICAS Y/O PIEZOELÉCTRICAS
Abrégé : front page image
(EN) The present invention is related to a new direct piezoelectric force microscope (1) and the method for imaging and/or characterizing ferroelectric and/or piezoelectric samples (9) using the direct piezoelectric force microscope (1). This device and this method obtain a direct quantitative measurement of the piezoelectric constant in piezoelectric and/or ferroelectrics samples (9) by using amplifier means (5) and a probe that comprises a tip (3) which is adapted to discharges all the superficial charge and strains a piezoelectric material in order to collect the charge build up by the direct piezoelectric effect.
(FR) La présente invention concerne un microscope piézoélectrique à force directe (1) et un procédé de formation d’images et/ou de caractérisation d’échantillons (9) ferroélectriques et/ou piézoélectriques au moyen du microscope piézoélectrique à force directe (1). Ce dispositif et ce procédé permettent d’obtenir une mesure quantitative directe de la constante piézoélectrique dans des échantillons (9) piézoélectriques et/ou ferroélectriques par utilisation de moyens amplificateurs (5) et d’une sonde qui comprend une pointe (3), qui est conçue pour décharger toutes les charges superficielles de l’échantillon et mettre sous tension une matière piézoélectrique afin de récupérer la charge accumulée par l’effet piézoélectrique direct.
(ES) La presente invención se refiere a un microscopio piezoeléctrico de fuerza directa (1) y a un método de formación de imágenes y/o caracterización de muestras (9) ferroeléctricas y/o piezoeléctricas mediante el microscopio piezoeléctrico de fuerza directa (1). Este dispositivo y este método permiten obtener una medición cuantitativa directa de la constante piezoeléctrica en muestras (9) piezoeléctricas y/o ferroeléctricas mediante el uso de medios amplificadores (5) y una sonda que comprende una punta (3), que está adaptada para descargar todas las cargas superficiales de la muestra y tensionar un material piezoeléctrico con el fin de recoger la carga acumulada por el efecto piezoeléctríco directo.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : espagnol (ES)
Langue de dépôt : espagnol (ES)