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1. (WO2018030603) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE DÉFAUTS DANS UN FILM OPTIQUE

Pub. No.:    WO/2018/030603    International Application No.:    PCT/KR2017/001899
Publication Date: Fri Feb 16 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Feb 22 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 21/88
G01N 35/00
G02B 5/30
Applicants: DONGWOO FINE-CHEM CO., LTD.
동우화인켐 주식회사
Inventors: LEE, Eun Gyu
이은규
KIM, Jong Woo
김종우
KIM, Jin Ho
김진호
Title: PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE DÉFAUTS DANS UN FILM OPTIQUE
Abstract:
L'invention concerne un dispositif et un procédé permettant d'inspecter les défauts présents dans un film optique, ledit procédé comprenant les étapes consistant à faire adhérer le film optique à une première plaque ; émettre de la lumière sur une surface du film optique de façon à acquérir une première image superficielle ; faire adhérer ladite surface du film optique à une seconde plaque et détacher la première plaque ; faire tourner la seconde plaque à laquelle ladite surface du film optique est collée, de telle sorte que la seconde surface du film optique se trouve face à la direction de l'émission lumineuse ; émettre de la lumière sur la seconde surface du film optique de façon à acquérir une seconde image superficielle ; et détecter la présence d'un défaut en utilisant la première image superficielle et la seconde image superficielle.