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1. (WO2018028033) TESTEUR D'ÉCRAN TACTILE SEMI-FINI BASÉ SUR DES COMMUTATEURS MAGNÉTIQUES

Pub. No.:    WO/2018/028033    International Application No.:    PCT/CN2016/101028
Publication Date: Fri Feb 16 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat Oct 01 01:59:59 CEST 2016
IPC: G01R 31/28
Applicants: EELY-ECW TECHNOLOGY LTD.
意力(广州)电子科技有限公司
Inventors: XIAO, Minyi
肖敏毅
Title: TESTEUR D'ÉCRAN TACTILE SEMI-FINI BASÉ SUR DES COMMUTATEURS MAGNÉTIQUES
Abstract:
La présente invention concerne un testeur d'écran tactile semi-fini basé sur des commutateurs magnétiques (6), comprenant un châssis de travail (1) disposé en son sein avec un module de test de circuit ouvert/court et un module de test de capacité et, disposés sur le châssis de travail (1), une carte de test (2), une plate-forme de test (3) et les commutateurs magnétiques (6). Les commutateurs magnétiques (6) comprennent des premières bornes de connexion (61) servant de terminaux communs, des deuxièmes bornes de connexion (62) servant de terminaux normalement ouverts et des troisièmes bornes de connexion (63) servant de terminaux normalement fermés, les premières bornes de connexion (61) étant électriquement connectées à la carte de test (2), les deuxièmes bornes de connexion (62) étant électriquement connectées au module de test de circuit ouvert/court, les troisièmes bornes de connexion (63) étant électriquement connectées au module de test de capacité, la plate-forme de test (3) étant utilisée de manière à maintenir un produit à tester, et la plate-forme de test (3) étant fixée à la carte de test (2), permettant ainsi au produit de test d'être connecté électriquement à la carte de test (2). Le testeur d'écran tactile semi-fini basé sur les commutateurs magnétiques (6) emploie les commutateurs magnétiques (6) à la place de sondes classiques en tant que connecteurs, réduisant ainsi la fréquence de maintenance du testeur et réduisant les coûts de maintenance. De plus, le testeur est également pourvu d'un degré élevé de compatibilité et de la fonction de test d'une valeur de capacité en plus de tester une valeur de circuit ouvert/court.