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1. (WO2018027232) DÉTECTION DE DÉFAILLANCE DANS UN SYSTÈME RADAR
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N° de publication :    WO/2018/027232    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/045789
Date de publication : 08.02.2018 Date de dépôt international : 07.08.2017
CIB :
G01S 13/02 (2006.01), G01S 13/34 (2006.01)
Déposants : TEXAS INSTRUMENTS IN INCORPORATED [US/US]; P.o. Box 655474, Mail Station 3999 Dallas, TX 75265-5474 (US).
TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED [JP/JP]; 24-1, Nishi-shinjuku 6-chome Shinjuku-ku Tokyo, 160-8366 (JP) (JP only)
Inventeurs : SUBBURAJ, Karthik; (IN).
NAYYAR, Jasbir, Singh; (IN).
RAMASUBRAMANIAN, Karthik; (IN)
Mandataire : DAVIS, Michael A.; (US).
NEEERINGS, Ronald, O.; (US).
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED; Michael A. Davis, Jr., P.o. Box 655474, Mail Station 3999 Dallas, TX 75265-5474 (US)
Données relatives à la priorité :
15/229,927 05.08.2016 US
Titre (EN) FAILURE DETECTION IN A RADAR SYSTEM
(FR) DÉTECTION DE DÉFAILLANCE DANS UN SYSTÈME RADAR
Abrégé : front page image
(EN)In described examples, a radar system includes: a receive channel (104) including a complex baseband; and a processor (106) coupled to the receive channel (104) to receive first digital intermediate frequency (IF) samples from an in-band (I) channel of the complex baseband and corresponding second digital IF samples from a quadrature (Q) channel of the complex baseband. The processor (106) is configured to execute instructions to compute at least one failure metric based on the first digital IF samples and the second digital IF samples.
(FR)L’invention concerne, selon certains exemples, un système radar comprenant : un canal de réception (104) comprenant une bande de base complexe ; et un processeur (106) couplé au canal de réception (104) pour recevoir des premiers échantillons de fréquence intermédiaire (IF) numériques provenant d'un canal en bande (I) de la bande de base complexe et des seconds échantillons IF numériques correspondants provenant d'un canal en quadrature (Q) de la bande de base complexe. Le processeur (106) est configuré pour exécuter des instructions pour calculer au moins une mesure de défaillance sur la base des premiers échantillons IF numériques et des seconds échantillons IF numériques.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)