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1. (WO2018026237) DISPOSITIF D'INSPECTION ET DE CORRECTION DE DÉFAUTS D'UNE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ

Pub. No.:    WO/2018/026237    International Application No.:    PCT/KR2017/008450
Publication Date: Fri Feb 09 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat Aug 05 01:59:59 CEST 2017
IPC: H05K 13/08
H05K 13/04
Applicants: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC
주식회사 고영테크놀러지
Inventors: PARK, Young Ho
박영호
SEO, Keum Ho
서금호
KIM, Ban Seok
김반석
SHIN, Jae Deuk
신재득
KIM, Yong
김용
Title: DISPOSITIF D'INSPECTION ET DE CORRECTION DE DÉFAUTS D'UNE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
Abstract:
L'invention concerne un dispositif et un procédé d'inspection et de correction de défauts d'une carte de circuit imprimé. Le dispositif pour inspecter et corriger des défauts d'une carte de circuit imprimé inspecte une carte de circuit imprimé ayant des composants disposés en son sein avant un processus de refusion et détecte un défaut présent sur le substrat. Le dispositif d'inspection et de correction de défauts d'une carte de circuit imprimé sépare les composants associés au défaut détecté du substrat et peut réarranger de nouveaux composants. Le dispositif d'inspection et de correction de défauts d'une carte de circuit imprimé peut stocker une brasure ou stocker la brasure à nouveau après élimination de la brasure résiduelle, dans le processus de séparation et de réarrangement des composants.