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1. (WO2018025324) CIRCUIT DE DÉTECTION
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N° de publication :    WO/2018/025324    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/072646
Date de publication : 08.02.2018 Date de dépôt international : 02.08.2016
CIB :
H03D 1/10 (2006.01), H03D 1/18 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : IKEDA Yasuhiro; (JP).
YAZAKI Toru; (JP).
UEMATSU Yutaka; (JP)
Mandataire : SHOYO INTELLECTUAL PROPERTY FIRM; 6F, Tobu Yokohama 2ND Bldg., 15-1, Kitasaiwai 2-chome, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2200004 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DETECTION CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE DÉTECTION
(JA) 検波回路
Abrégé : front page image
(EN)To suppress the variation in detection voltage with temperature. A detection circuit, having: a first rectifying element in which an input signal is inputted into the anode thereof; a second rectifying element in which the cathode thereof is connected to the cathode of the first rectifying element and the anode thereof is connected to an output terminal; and a current mirror circuit for feeding a current to the first rectifying element and feeding a current mirror current of the current to a second rectifying element.
(FR)L’objectif de la présente invention est de supprimer la variation de tension de détection avec la température. L’invention concerne un circuit de détection, comportant : un premier élément de redressement dans lequel un signal d’entrée est introduit dans l’anode de celui-ci ; un deuxième élément de redressement dans lequel la cathode de celui-ci est connectée à la cathode du premier élément de redressement et l’anode de celui-ci est connectée à une borne de sortie ; et un circuit de miroir de courant pour alimenter un courant au premier élément de redressement et alimenter un courant de miroir de courant du courant à un deuxième élément de redressement.
(JA)温度による検波電圧の変動を抑制する。 検波回路は、アノードに入力信号が入力される第1の整流素子と、カソードが第1の整流素子のカソードと接続され、アノードが出力端子に接続された第2の整流素子と、第1の整流素子に電流を供給するとともに、その電流のカレントミラー電流を第2の整流素子に供給するカレントミラー回路と、を有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)