Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2018025272) SYSTÈME DE TEST PHOTOMÉTRIQUE POUR DISPOSITIFS ÉLECTROLUMINESCENTS

Pub. No.:    WO/2018/025272    International Application No.:    PCT/IL2017/050862
Publication Date: Fri Feb 09 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Fri Aug 04 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01J 1/04
Applicants: OPHIR OPTRONICS SOLUTIONS LTD.
Inventors: ROTEM, Efi
COHEN, Raphael
ELSTEIN, Shimon
IVKER, Mark
BENDER, Eliyahu
SEBBAG, Daniel
HABER, Ilan
Title: SYSTÈME DE TEST PHOTOMÉTRIQUE POUR DISPOSITIFS ÉLECTROLUMINESCENTS
Abstract:
La présente invention concerne un système de test photométrique pour des luminaires à LED. Le système utilise des panneaux photodétecteurs pour détecter et mesurer la lumière. En plaçant une couche d’absorbeur optique ayant une faible réflectivité et une faible transmissivité sur les panneaux photodétecteurs, une surface de detection, qui est également un absorbeur, est obtenue. Cet absorbeur réduit la réflexion de la lumière incidente provenant du dispositif à l’essai (DUT), et la lumière réfléchie par les panneaux photodétecteurs. Un réseau de trous d’épingle peut être commodément utilisé à cet effet. Cela permet que l’aire de mesure du système ne soit pas sensiblement plus grande que l’aire d’émission du DUT. Un diffuseur positionné entre la couche d’absorbeur et les panneaux photodétecteurs augmente la précision du système. Des simulations et des résultats expérimentaux montrent que ce système peut mesurer le flux total avec une incertitude de 4,3 %. Le système décrit est utilisé en géométrie 2π. Le système mesure le flux total, les paramètres de couleur (tels que CCT, CRI, la chromaticité) et le papillotement.