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1. (WO2018025045) DISPOSITIF D’ALIGNEMENT ET PROCÉDÉ D’ALIGNEMENT D’UNE CONTREPLAQUE AVEC UNE MATRICE
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N° de publication :    WO/2018/025045    N° de la demande internationale :    PCT/GB2017/052268
Date de publication : 08.02.2018 Date de dépôt international : 03.08.2017
CIB :
B21D 28/34 (2006.01), B44B 5/02 (2006.01), B31B 50/14 (2017.01), B26F 1/02 (2006.01), B26F 1/14 (2006.01), B26F 1/44 (2006.01)
Déposants : C&T MATRIX LIMITED [GB/GB]; Room 1.1 London Heliport Bridges Court Road London SW11 3BE (GB)
Inventeurs : GOLDSMITH, Mark; (GB).
ARNEDO, Oliver; (GB)
Mandataire : WITHERS & ROGERS LLP; 4 More London Riverside London SE1 2AU (GB).
EDSON, Russell; (GB)
Données relatives à la priorité :
1613465.2 04.08.2016 GB
Titre (EN) ALIGNMENT DEVICE AND METHOD FOR ALIGNING A COUNTERPLATE WITH A DIE
(FR) DISPOSITIF D’ALIGNEMENT ET PROCÉDÉ D’ALIGNEMENT D’UNE CONTREPLAQUE AVEC UNE MATRICE
Abrégé : front page image
(EN)There is disclosed an alignment device for aligning a counterplate with a die plate. The alignment assembly comprises an elongate alignment pin, the pin being disposed in a mounting body; a spacer member, comprising a spacer portion and a retaining portion for retaining the spacer member to the assembly. The alignment pin, spacer member and/or mounting body are configured such that the pin can be retained in the mounting body in a first, extended, position, and in a second, retracted, position; and the spacer member is preferably retained to the assembly in both the extended and retracted positions of the pin. The pin is also configured to be drawn into an extended position by a setting tool for alignment of the counterplate relative to the die.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d’alignement pour aligner une contreplaque avec une plaque de matrice. L’ensemble d’alignement comprend une broche d’alignement allongée, la broche étant disposée dans un corps de montage ; un élément d’espacement, comprenant une partie d’espacement et une partie de retenue pour retenir l’élément d’espacement sur l’ensemble. La broche d’alignement, l’élément d’espacement et/ou le corps de montage sont configurés de sorte que la broche puisse être retenue dans le corps de montage dans une première position étendue, et dans une deuxième position rétractée, et l’élément d’espacement est, de préférence, retenu sur l’ensemble à la fois dans les positions étendue et rétractée de la broche. La broche est également configurée pour être étirée dans une position étendue par un outil de réglage pour l’alignement de la contreplaque par rapport à la matrice.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)