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1. (WO2018024840) SYSTÈME DE DÉTECTION ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE SYSTÈMES DE DÉTECTION
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N° de publication : WO/2018/024840 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/069704
Date de publication : 08.02.2018 Date de dépôt international : 03.08.2017
CIB :
G01N 21/3504 (2014.01) ,G01N 21/03 (2006.01) ,G01J 3/02 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 21/3504]
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01
Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03
Détails de structure des cuvettes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
02
Parties constitutives
Déposants :
OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH [DE/DE]; Leibnizstr. 4 93055 Regensburg, DE
Inventeurs :
SINGER, Frank; DE
SPERL, Matthias; DE
Mandataire :
ZACCO PATENT- UND RECHTSANWALTSGESELLSCHAFT MBH; Bayerstrasse 83 80335 München, DE
Données relatives à la priorité :
10 2016 114 542.405.08.2016DE
Titre (EN) DETECTION ASSEMBLY AND METHOD FOR PRODUCING DETECTION ASSEMBLIES
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE SYSTÈMES DE DÉTECTION
(DE) DETEKTIONSANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON DETEKTIONSANORDNUNGEN
Abrégé :
(EN) A detection assembly (1) is described, comprising: - an emitter (2) for generating radiation with a peak wavelength in the infrared spectral range; - a detector (3) for receiving the radiation: - a mounting surface (10), on which at least a first contact surface (51) and a second contact surface (52) are formed for the external electrical interconnection of the detection assembly; - a shaped body (4) at least partially adjacent to the emitter and the detector; and - deflection optics (6) hit by the radiation emitted by the emitter during the operation of the detection assembly, the deflection optics forming an optical path (9) between the emitter and the detector. Also described is a method for producing detection assemblies.
(FR) L'invention concerne un système de détection (1) comprenant : - un émetteur (2) produisant un rayonnement présentant une longueur d'onde de crête dans le domaine spectral infrarouge; - un détecteur (3) recevant le rayonnement; - une surface de montage (10) sur laquelle sont réalisées au moins une première surface de contact (51) et une seconde surface de contact (52) pour la mise en contact électrique externe du système de détection; - un corps moulé (4) qui est au moins par endroits adjacent à l'émetteur et au détecteur; - et une optique de renvoi (6) que le rayonnement émis par l'émetteur atteint lorsque le système de détection fonctionne, un chemin optique (9) étant formé par l'optique de renvoi entre l'émetteur et le détecteur. L'invention concerne par ailleurs un procédé de fabrication de systèmes de détection.
(DE) Es wird eine Detektionsanordnung (1) angegeben, umfassend: - einen Emitter (2) zur Erzeugung einer Strahlung mit einer Peak-Wellenlänge im infraroten Spektralbereich; - einen Detektor (3) zum Empfangen der Strahlung; - eine Montagefläche (10), an der zumindest eine erste Kontaktfläche (51) und eine zweite Kontaktfläche (52) für die externe elektrische Kontaktierung der Detektionsanordnung ausgebildet sind; - einen Formkörper (4), der zumindest stellenweise an den Emitter und an den Detektor angrenzt; und - eine Umlenkoptik (6), auf die im Betrieb der Detektionsanordnung von dem Emitter emittierte Strahlung trifft, wobei mittels der Umlenkoptik ein optischer Pfad (9) zwischen dem Emitter und dem Detektor gebildet ist. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung von Detektionsanordnungen angegeben.
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Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)