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1. (WO2018024060) DISPOSITIF DE TEST D'ATTÉNUATION DE COMPOSANT OLED ET PROCÉDÉ DE TEST D'ATTÉNUATION DE COMPOSANT OLED
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N° de publication :    WO/2018/024060    N° de la demande internationale :    PCT/CN2017/091065
Date de publication : 08.02.2018 Date de dépôt international : 30.06.2017
CIB :
G01R 31/26 (2014.01), G06F 17/50 (2006.01), H01L 51/56 (2006.01)
Déposants : BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015 (CN).
HEFEI XINSHENG OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Xinzhan Industrial Park Hefei City, Anhui 230011 (CN)
Inventeurs : XU, Kai; (CN).
PENG, Rui; (CN).
YE, Zhijie; (CN).
HU, Yue; (CN)
Mandataire : LIU, SHEN & ASSOCIATES; 10th Floor, Building 1, 10 Caihefang Road, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Données relatives à la priorité :
201610634740.X 04.08.2016 CN
Titre (EN) OLED COMPONENT ATTENUATION TEST DEVICE AND OLED COMPONENT ATTENUATION TEST METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TEST D'ATTÉNUATION DE COMPOSANT OLED ET PROCÉDÉ DE TEST D'ATTÉNUATION DE COMPOSANT OLED
(ZH) OLED器件衰减测试装置及衰减测试方法
Abrégé : front page image
(EN)An OLED component attenuation test device and an OLED component attenuation test method. The OLED component attenuation test device comprises a difference function construction unit (200), an integration unit (300), a comparison unit (400), and a determining unit (500). The OLED component attenuation test method comprises: constructing a first luminous brightness difference function before aging and a second luminous brightness difference function after aging, integrating the first function and the second function, comparing the integrals, and determining, according to the comparison result, whether intrinsic attenuation occurs on a luminescent material of a luminescent layer of an OLED component. The OLED component attenuation test device is used for executing the OLED component attenuation method.
(FR)L'invention concerne un dispositif de test d'atténuation de composant OLED et un procédé de test d'atténuation de composant OLED. Le dispositif de test d'atténuation de composant OLED comprend une unité de construction de fonction de différence (200), une unité d'intégration (300), une unité de comparaison (400) et une unité de détermination (500). Le procédé de test d'atténuation de composant OLED consiste à : construire une première fonction de différence de luminosité lumineuse avant vieillissement et une seconde fonction de différence de luminosité lumineuse après vieillissement, intégrer la première fonction et la seconde fonction, comparer les intégrales, et déterminer, en fonction du résultat de la comparaison, si une atténuation intrinsèque se produit sur un matériau luminescent d'une couche luminescente d'un composant OLED. Le dispositif de test d'atténuation de composant OLED est utilisé pour mettre en œuvre le procédé d'atténuation de composant OLED.
(ZH)一种OLED器件衰减测试装置及衰减测试方法。该OLED器件衰减测试装置,包括差值函数构建单元(200)、积分单元(300)、比较单元(400)和判定单元(500)。OLED器件衰减测试方法包括:构建老化前后的第一和第二发光亮度差值函数,并对第一和第二函数进行积分,比较两个积分,根据比较结果判断OLED器件的发光层的发光材料是否发生本征衰减。OLED器件衰减测试装置用于执行OLED器件衰减方法。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)