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1. (WO2018023929) SYSTÈME DE TEST D'ANTENNE INTÉGRÉE
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N° de publication :    WO/2018/023929    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/112523
Date de publication : 08.02.2018 Date de dépôt international : 28.12.2016
CIB :
G01R 29/10 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN XINYI TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; CAI, Xinxin The West Side Of 1/F, No.1 Workshop, Penghua Industrial, Peace West Rd, Waves Street, Longhua New District Shenzhen, Guangdong 518109 (CN)
Inventeurs : HAN, Dong; (CN).
CHEN, Haibo; (CN).
SUN, Ci'en; (CN).
CHEN, Yuan; (CN).
DENG, Dongliang; (CN)
Mandataire : BEIJING WEIZHENG PATENT AGENCY CO.,LTD.; ZHENG, Xingwang Room 1101, TianLian Building, No.102 Lianhuachi East Rd., Xicheng District Beijing 100000 (CN)
Données relatives à la priorité :
201610615139.6 01.08.2016 CN
Titre (EN) INTEGRATED ANTENNA TEST SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST D'ANTENNE INTÉGRÉE
(ZH) 一种天线综合测试系统
Abrégé : front page image
(EN)An integrated antenna test system characterized by comprising: a probe motion control system, a radio frequency switch system, a data collection and calculation system, a signal transmitter, and a probe. The system can combine far field radiation parameters and near field radiation parameters to obtain pattern data and determine data. A radiation parameter test is based on an algorithm that combines the amplitude and phase of an array antenna, comprises two test modes, that is, a far field mode and a near field mode, and can output pattern data of the corresponding mode. A high-performance radio frequency switch system subsequently integrates antenna circuit parameter test items, which can greatly the improve efficiency and level of automation of base station antenna production line quality inspection. The system has high accuracy, high mobility, low cost, and low maintenance requirements.
(FR)La présente invention concerne un système de test d'antenne intégrée caractérisé en ce qu’il comprend : un système de commande de mouvement de sonde, un système de commutation à radiofréquence, un système de collecte et de calcul de données, un émetteur de signaux, et une sonde. Le système peut combiner des paramètres de rayonnement en champ lointain et des paramètres de rayonnement en champ proche pour obtenir des données de motif et déterminer des données. Un test de paramètre de rayonnement est basé sur un algorithme combinant l’amplitude et la phase d’une antenne réseau, comprend deux modes de test, c'est-à-dire, un mode en champ lointain et un mode en champ proche, et peut délivrer des données de motif du mode correspondant. Un système de commutation à radiofréquence de haute performance intègre par la suite des éléments de test de paramètre de circuit d’antenne, qui peuvent considérablement améliorer l’efficacité et le niveau d’automatisation de l’inspection de qualité de la ligne de production d’antennes de station de base. Le système présente une grande précision, une grande mobilité, un faible coût, et de faibles exigences d’entretien.
(ZH)一种天线综合测试系统,其特征在于,所述系统包括:探头运动控制系统、射频切换系统、数据采集及运算系统、信号传输仪、探头,可对远场和近场辐射参数进行合成,并得出方向图数据并进行数据判定。其中辐射参数测试基于阵列天线幅相合成的算法,包含远场和近场两种测试模式,并可以输出对应模式下的方向图数据,然后通过一套高性能的射频切换系统将天线电路参数测试项目集成,可大幅提供基站天线产线品质检验的效率和自动化程度,具有精度高、移动方便、成本低、便于维护的特点。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)