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1. (WO2018022172) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR AJUSTER LES PERFORMANCES D'UN DISPOSITIF SUR LA BASE D'UNE CAPACITÉ DE SOURCE DE COURANT D'HÔTE DÉTECTÉE
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N° de publication : WO/2018/022172 N° de la demande internationale : PCT/US2017/031981
Date de publication : 01.02.2018 Date de dépôt international : 10.05.2017
CIB :
G06F 1/26 (2006.01) ,G11C 16/30 (2006.01) ,G11C 5/14 (2006.01) ,G11C 7/20 (2006.01)
Déposants : SANDISK TECHNOLOGIES LLC[US/US]; 6900 Dallas Parkway Suite 325 Plano, TX 75024, US
Inventeurs : AGRAWAL, Ankur; IN
Mandataire : GENIN, Kent, E.; US
Données relatives à la priorité :
15/223,77329.07.2016US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR ADJUSTING DEVICE PERFORMANCE BASED ON SENSED HOST CURRENT SOURCING CAPABILITY
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR AJUSTER LES PERFORMANCES D'UN DISPOSITIF SUR LA BASE D'UNE CAPACITÉ DE SOURCE DE COURANT D'HÔTE DÉTECTÉE
Abrégé : front page image
(EN) A system and method is disclosed for an electronic device, such as a non-volatile memory associated with a host, to determine a current sourcing capability of the host and to adjust performance characteristics of the electronic device based on the determined current sourcing capability. The system may include an input current source testing circuit, device function circuitry and a controller configured to determine a current sourcing capability of a host with the input current source testing circuit, select a device performance parameter associated with the determined current sourcing capability and operate the device function circuitry according to the device performance parameter until detecting a power-off event. The method may include the electronic device reducing a resistance presented to the host to a plurality of predetermined resistance levels to determine the current sourcing capability of the host and utilizing the results of the determination to select associated device performance parameters.
(FR) L'invention concerne un système et un procédé pour un dispositif électronique, tel qu'une mémoire non volatile associée à un hôte, pour déterminer une capacité de source de courant de l'hôte et pour ajuster les caractéristiques de performance du dispositif électronique sur la base de la capacité de source de courant déterminée. Le système peut comprendre un circuit de test de source de courant d'entrée, un circuit de fonction de dispositif et un contrôleur configuré pour déterminer une capacité de source de courant d'un hôte avec le circuit de test de source de courant d'entrée, sélectionner un paramètre de performance de dispositif associé à la capacité de source de courant déterminée et actionner le circuit de fonction de dispositif selon le paramètre de performance de dispositif jusqu'à la détection d'un événement de mise hors tension. Le procédé peut comprendre le dispositif électronique réduisant une résistance présentée à l'hôte à une pluralité de niveaux de résistance prédéterminés pour déterminer la capacité de source actuelle de l'hôte et en utilisant les résultats de la détermination pour sélectionner des paramètres de performance de dispositif associés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)