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1. (WO2018021729) APPAREIL À BROCHE DE CONNEXION POUR TEST DE PUCES SEMI-CONDUCTRICE, ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
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N° de publication :    WO/2018/021729    N° de la demande internationale :    PCT/KR2017/007450
Date de publication : 01.02.2018 Date de dépôt international : 12.07.2017
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 1/067 (2006.01), G01R 1/04 (2006.01)
Déposants : OH, Jaesuk [KR/KR]; (KR).
LIM, Kyungsook [KR/KR]; (KR)
Inventeurs : OH, Jaesuk; (KR).
LIM, Kyungsook; (KR)
Mandataire : KIM, Jeongok; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2016-0096642 29.07.2016 KR
Titre (EN) CONNECTOR PIN APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR CHIP TESTING, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
(FR) APPAREIL À BROCHE DE CONNEXION POUR TEST DE PUCES SEMI-CONDUCTRICE, ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(KO) 반도체 칩 검사용 커넥터 핀 장치 및 그의 제작 방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a connector pin apparatus for semiconductor chip testing, and a method for manufacturing same, the connector pin apparatus enabling a semiconductor chip to have reliable and stable electrical properties and increased durability, and thus enhancing economic efficiency. A connector pin apparatus for semiconductor chip testing, according to the present invention, comprises a test socket body, a pair of sliding contact pins, and a space unit. The test socket body comprises: a pin mounting portion formed from a flexible insulating material and having a plurality of mounting holes; and a support portion for supporting the pin mounting portion on the periphery of the pin mounting portion. The pair of sliding contact pins are provided in the plurality of mounting holes, respectively, and comprise a first contact pin, of which a first end part is externally exposed and a second end part is positioned inside the mounting hole, and a second contact pin, of which a first end part is externally exposed from the position opposite from the first end part of the first contact pin and a second end part is positioned inside the mounting hole, wherein the second end parts of the first contact pin and second contact pin slide into contact with each other. The space unit is formed, from the mounting holes, on the part in which the second end parts of the pair of sliding contact pins are positioned.
(FR)La présente invention porte sur un appareil à broche de connexion pour test de puce semi-conductrice, et sur son procédé de fabrication, l'appareil à broche de connexion permettant à une puce semi-conductrice d'avoir des propriétés électriques fiables et stables et une durabilité accrue, ce qui améliore ainsi son efficience économique. Un appareil à broche de connexion pour test de puce semi-conductrice selon la présente invention comprend un corps de douille de test, une paire de broches de contact coulissantes et une unité d'espacement. Le corps de douille de test comprend : une partie de montage de broche formée à partir d'un matériau isolant souple et comportant une pluralité de trous de montage ; et une partie de support pour supporter la partie de montage de broche sur la périphérie de la partie de montage de broche. La paire de broches de contact coulissantes est disposée dans la pluralité de trous de montage, respectivement, et comprend une première broche de contact, dont une première partie d'extrémité est exposée extérieurement et une seconde partie d'extrémité est positionnée à l'intérieur du trou de montage, et une seconde broche de contact, dont une première partie d'extrémité est exposée extérieurement depuis la position opposée à la première partie d'extrémité de la première broche de contact et une seconde partie d'extrémité est positionnée à l'intérieur du trou de montage, les secondes parties d'extrémité de la première broche de contact et de la seconde broche de contact coulissant pour venir en contact l'une avec l'autre. L'unité d'espacement est formée, à partir des trous de montage, sur la partie dans laquelle les secondes parties d'extrémité de la paire de broches de contact coulissantes sont positionnées.
(KO)본 발명은 반도체 칩의 전기적 특성을 신뢰성 있고 안정적으로 수행할 수 있으며, 내구 수명을 연장시켜 경제성을 향상시킬 수 있는 반도체 칩 검사용 커넥터 핀 장치 및 그의 제작 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 반도체 칩 검사를 위한 커넥터 핀 장치에 있어서, 연성의 절연성 재질로 이루어지고 복수의 장착 구멍이 형성된 핀 장착부, 및 상기 핀 장착부 둘레에서 핀 장착부를 지지하는 지지부를 포함하는 테스트 소켓 바디; 상기 복수의 장착 구멍에 각각 구비되고, 제1 단부는 외부로 노출되고 제2 단부는 상기 장착 구멍 내측에 위치되는 제1 접촉핀, 및 제1 단부는 상기 제1 접촉핀의 제1 단부와 반대되는 위치에서 외부로 노출되고 제2 단부는 상기 장착 구멍 내측에 위치되는 제2 접촉핀으로 이루어지되, 상기 제1 접촉핀과 제2 접촉핀의 제2 단부 간이 상호 슬라이딩 접촉하도록 구비되는 한 쌍의 슬라이딩 접촉핀; 및 상기 장착 구멍에서 상기 한 쌍의 슬라이딩 접촉핀의 제2 단부가 위치되는 부위에 형성되는 공간부;를 포함하는 반도체 칩 검사용 커넥터 핀 장치가 제공된다.
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)