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1. (WO2018021210) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE, DISPOSITIF D'ACQUISITION DE DONNÉES DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE DONNÉES DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE
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N° de publication :    WO/2018/021210    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/026605
Date de publication : 01.02.2018 Date de dépôt international : 24.07.2017
CIB :
G01B 11/30 (2006.01)
Déposants : CHUGOKU MARINE PAINTS, LTD. [JP/JP]; 1-7, Meijishinkai, Otake-shi, Hiroshima 7390652 (JP)
Inventeurs : MIENO Hirohisa; (JP)
Mandataire : SSINPAT PATENT FIRM; Gotanda Yamazaki Bldg. 6F, 13-6, Nishigotanda 7-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1410031 (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-147605 27.07.2016 JP
Titre (EN) THREE-DIMENSIONAL SURFACE ROUGHNESS EVALUATING DEVICE, THREE-DIMENSIONAL SURFACE ROUGHNESS EVALUATING METHOD, THREE-DIMENSIONAL SURFACE ROUGHNESS DATA ACQUIRING DEVICE, AND THREE-DIMENSIONAL SURFACE ROUGHNESS DATA ACQUIRING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE, PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE, DISPOSITIF D'ACQUISITION DE DONNÉES DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE DONNÉES DE RUGOSITÉ DE SURFACE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法
Abrégé : front page image
(EN)This three-dimensional surface roughness evaluating device is provided with a two-dimensional laser displacement meter, a movement mechanism which causes the two-dimensional laser displacement meter to move in the X-axis direction, a movement distance reading device which reads the movement distance of the two-dimensional laser displacement meter in the X-axis direction, and a calculating device which creates three-dimensional surface roughness data of a measured object on the basis of displacement data acquired by the two-dimensional laser displacement meter and movement distance data acquired by the movement distance reading device. The two-dimensional laser displacement meter is disposed in such a way that the width direction of the two-dimensional laser displacement meter coincides with the Y-axis direction, to make it possible to read Y-axis direction coordinate displacement data at fixed intervals. The measuring width of the two-dimensional laser displacement meter is at least twice a mean length RSm of elements of the measured object. The calculating device is configured to create reference surface data of each coordinate by averaging in the Y-axis direction the displacement data acquired at fixed intervals in the X-axis direction by the two-dimensional laser displacement meter, and to create three-dimensional surface roughness data of the measured object by subtracting the reference surface data of each coordinate from the displacement data of each coordinate in the X-Y plane.
(FR)L’invention concerne un dispositif d'évaluation de rugosité de surface tridimensionnelle comprenant un dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel, un mécanisme de déplacement qui amène le dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel à se déplacer dans la direction de l'axe X, un dispositif de lecture de distance de déplacement qui lit la distance de déplacement du dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel dans la direction de l'axe X, et un dispositif de calcul qui crée des données de rugosité de surface tridimensionnelle d'un objet mesuré sur la base de données de déplacement acquises par le dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel et des données de distance de déplacement acquises par le dispositif de lecture de distance de déplacement. Le dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel est disposé de sorte que la direction de la largeur du dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel coïncide avec la direction de l'axe Y, pour permettre la lecture de données de déplacement de coordonnées de direction d'axe Y à intervalles fixes. La largeur de mesure du dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel est d'au moins deux fois la longueur moyenne (RSm) des éléments de l'objet mesuré. Le dispositif de calcul est conçu pour créer des données de surface de référence de chaque coordonnée par calcul de la moyenne, dans la direction de l'axe Y, des données de déplacement acquises à intervalles fixes dans la direction de l'axe X par le dispositif de mesure de déplacement laser bidimensionnel, et pour créer des données de rugosité de surface tridimensionnelle de l'objet mesuré en soustrayant les données de surface de référence de chaque coordonnée des données de déplacement de chaque coordonnée dans le plan X-Y.
(JA)二次元レーザー変位計と、二次元レーザー変位計をX軸方向に移動させる移動機構と、二次元 レーザー変位計のX軸方向の移動距離を読み取る移動距離読取装置と、二次元レーザー変位計により取得された変位データと、移動距離読取装置により取得された移動距離データとに基づき、測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置とを備える三次元表面粗度評価装置であって、二次元レーザー変位計は、一定間隔毎にY軸方向の座標の変位データを読み取り可能となるように、該二次元レーザー変位計の幅方向がY軸方向と一致するように配置され、二次元レーザー変位計の計測幅が、測定対象の要素の平均長さRSmの少なくとも2倍以上であり、演算装置は、二次元レーザー変位計によりX軸方向の一定間隔毎に取得された変位データを、Y軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、各X-Y平面座標の変位データから、各座標の基準面データを減算して、測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)