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1. (WO2018020036) MICROSCOPIE D'ÉLECTRONS
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N° de publication :    WO/2018/020036    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/069240
Date de publication : 01.02.2018 Date de dépôt international : 28.07.2017
CIB :
G01N 1/28 (2006.01)
Déposants : MEDICAL RESEARCH COUNCIL [GB/GB]; 2nd Floor, David Phillips Building Polaris House, North Star Avenue Swindon SN2 1FL (GB)
Inventeurs : LAMERS, Meindert, Hugo; (GB).
FERNANDEZ-LEIRO, Rafael; (GB).
FIRMAN, Joshua; (GB)
Mandataire : SCRIPT IP LIMITED; 18 Bridge Street FROME Somerset BA11 1BB (GB).
LEPPARD, Andrew; (GB)
Données relatives à la priorité :
1613173.2 29.07.2016 GB
Titre (EN) ELECTRON MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE D'ÉLECTRONS
Abrégé : front page image
(EN)Aspects and embodiments relate to electron microscopy sample preparation apparatus; and a method of preparing an electron microscopy sample. Aspects and embodiments provide electron microscopy sample preparation apparatus. The apparatus comprises a support holder configured to receive an electron microscopy sample support, the electron microscopy sample support configured to receive a fluid sample. The apparatus comprising a gas outlet configured to direct a flow of gas towards a surface of the electron microscopy sample support to adjust fluid supported by the electron microscopy sample support. Aspects and embodiments recognise that in order to be successfully imaged, a specimen must be adequately prepared for imaging. Successful and reproducible preparation of an electron microscopy sample or specimen may be key to obtaining useful results from microscopy techniques. It will be appreciated that incorrect or unsuccessful preparation of a specimen for examination, may result in damage to a specimen, poor and/or irreproducible results.
(FR)Des aspects et des modes de réalisation de l'invention concernent un appareil de préparation d'échantillons de microscopie d'électrons; et un procédé de préparation d'un échantillon de microscopie d'électrons. Des aspects et des modes de réalisation portent sur un appareil de préparation d'échantillons de microscopie d'électrons. L'appareil comprend un élément de support conçu de manière à recevoir un support d'échantillon de microscopie d'électron, le support d'échantillon de microscopie d'électrons étant conçu de manière à recevoir un échantillon de fluide. L'appareil comprend une sortie de gaz conçue de manière à diriger un flux de gaz vers une surface du support d'échantillon de microscopie d'électrons de manière à régler le fluide supporté par le support d'échantillon de microscopie d'électrons. Des aspects et des modes de réalisation permettent de reconnaître que, afin d'être imagé avec succès, un spécimen doit être préparé de manière adéquate pour l'imagerie. La préparation réussie et reproductible d'un échantillon ou d'un spécimen de microscopie d'électrons peut être indispensable à l'obtention des résultats utiles à partir de techniques de microscopie. On notera que la préparation incorrecte ou infructueuse d'un échantillon à examiner peut entraîner des dommages à un spécimen, des résultats pauvres et/ou non reproductibles.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)