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1. (WO2018018467) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN SYSTÈME DE MESURE D’ESSAI DE COURT-CIRCUIT POUR APPAREIL ÉLECTRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/018467    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/091929
Date de publication : 01.02.2018 Date de dépôt international : 27.07.2016
CIB :
G01R 35/00 (2006.01)
Déposants : DONGGUAN GUANG AN ELECTRICAL TESTING CENTRE CO., LTD [CN/CN]; No.68 Xihu East Road, Shilong Town Dongguan, Guangdong 523000 (CN)
Inventeurs : ZHOU, Xiaomeng; (CN).
LIN, Zhili; (CN).
ZHANG, Dafen; (CN).
LI, Shuyi; (CN).
LI, Saisai; (CN).
GUO, Xiangrong; (CN)
Mandataire : GUANGZHOU YUEXIU JILY PATENT & TRADEMARK LAW OFFICE; RM602-604, East Jinan Building No.300 Middle Dongfeng Road, Yuexiu Guangzhou, Guangdong 510030 (CN)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD FOR CALIBRATING SHORT CIRCUIT TEST MEASUREMENT SYSTEM FOR ELECTRIC APPLIANCE
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN SYSTÈME DE MESURE D’ESSAI DE COURT-CIRCUIT POUR APPAREIL ÉLECTRIQUE
(ZH) 一种电器短路试验测量系统的校准方法
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is a method for calibrating a short circuit test measurement system for an electric appliance, comprising the following steps: S1: transmitting a digital waveform signal to a simulation short circuit waveform signal generator; S2: the simulation short circuit waveform signal generator switching the digital waveform signal to a calibration waveform signal and transmitting the calibration waveform signal to a measurement front end; S3: measurement software at a measurement host performing a digital calculation on the simulation waveform signal output by the measurement front end, so as to obtain a parameter of the simulation waveform signal; and S4: comparing the obtained parameter of the simulation waveform signal and a parameter of the digital waveform signal to obtain a difference value thereof. As an improvement for an assembly calibration method, when a measurement front end and a measurement host of a short circuit test measurement system for an electric appliance are calibrated, using a standard simulation short circuit test waveform as a signal source to replace a standard sinusoidal wave or a square wave is more suitable for an actual application scenario, and greatly improves the correctness and reliability when calibrating a short circuit test measurement system.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système de mesure d’essai de court-circuit pour un appareil électrique, comprenant les étapes suivantes : l’étape (S1) comprenant la transmission d'un signal de forme d'onde numérique à un générateur de signal de forme d'onde de court-circuit de simulation ; l’étape (S2) comprenant la commutation, par le générateur de signal de forme d'onde de court-circuit de simulation, du signal de forme d'onde numérique en un signal de forme d'onde d'étalonnage et la transmission du signal de forme d'onde d'étalonnage à une extrémité avant de mesure ; l’étape (S3) comprenant le calcul numérique, par un logiciel de mesure au niveau d'un hôte de mesure, sur le signal de forme d'onde de simulation émis par l'extrémité avant de mesure, de façon à obtenir un paramètre du signal de forme d'onde de simulation ; et l’étape (S4) comprenant la comparaison du paramètre obtenu du signal de forme d'onde de simulation et d'un paramètre du signal de forme d'onde numérique pour obtenir une valeur de différence de ces paramètres. En tant qu'amélioration d'un procédé d'étalonnage de système, lorsqu'une extrémité avant de mesure et un hôte de mesure d'un système de mesure d’essai de court-circuit pour un appareil électrique sont étalonnés, l’utilisation d’une forme d'onde d’essai de court-circuit de simulation standard en tant que source de signal pour remplacer une onde sinusoïdale standard ou une onde carrée est plus appropriée pour un scénario d'application réel, et améliore considérablement l'exactitude et la fiabilité lors de l'étalonnage d'un système de mesure d’essai de court-circuit.
(ZH)一种电器短路试验测量系统的校准方法,包括以下步骤:S1:将数字波形信号传输至模拟短路波形信号发生器;S2:模拟短路波形信号发生器将数字波形信号转换成校准波形信号,并将校准波形信号传输至测量前端;S3:测量主机处的测量软件对测量前端输出的模拟波形信号进行数据计算以得到模拟波形信号的参数;S4:将得到的模拟波形信号的参数与数字波形信号的参数进行比对得到其差值。作为对组件校准法的改进,在校准电器短路试验测量系统的测量前端及测量主机时,使用标准的模拟短路试验波形代替标准的正弦波或方波作为信号源,更加符合实际应用场景,大幅度提高了短路试验测量系统校准的正确性与可靠性。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)