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1. (WO2017222720) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE DÉTECTION DE POSITION DE FAISCEAU DE LUMIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/222720    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/034004
Date de publication : 28.12.2017 Date de dépôt international : 23.05.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.04.2018    
CIB :
G01S 7/481 (2006.01), G02B 26/10 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714 (US)
Inventeurs : IRISH, Linda; (US).
GRUHLKE, Russell; (US).
RAINA, Manav; (US)
Mandataire : FU, Zhenhai; (US)
Données relatives à la priorité :
15/192,811 24.06.2016 US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR LIGHT BEAM POSITION DETECTION
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE DÉTECTION DE POSITION DE FAISCEAU DE LUMIÈRE
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed herein are techniques for determining the position of a light beam on a beam shaping device. A feature can be formed on the beam shaping device to affect at least a portion of a light beam when the feature is illuminated by the light beam. When the light beam is directed onto the feature on the beam shaping device, a feature detection signal may be generated by a detector in response to detecting at least the portion of the light beam affected by the feature that has been illuminated by the light beam. The position of the light beam on the beam shaping device at a time instant can then be determined based, at least in part, on the feature detection signal.
(FR)L'invention concerne des techniques pour déterminer la position d'un faisceau de lumière sur un dispositif de mise en forme de faisceau. Une caractéristique peut être formée sur le dispositif de mise en forme de faisceau afin d'affecter au moins une partie d'un faisceau de lumière lorsque la caractéristique est éclairée par le faisceau de lumière. Lorsque le faisceau de lumière est dirigé sur la caractéristique sur le dispositif de mise en forme de faisceau, un signal de détection de caractéristique peut être généré par un détecteur en réponse à la détection d'au moins la partie du faisceau de lumière affectée par la caractéristique qui a été éclairée par le faisceau de lumière. La position du faisceau de lumière sur le dispositif de mise en forme de faisceau à un instant peut ensuite être déterminée sur la base, au moins en partie, du signal de détection de caractéristique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)