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1. (WO2017222147) SYSTÈME DE DIAGNOSTIC POUR CONVERTISSEUR TENSION CONTINUE-TENSION CONTINUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/222147    N° de la demande internationale :    PCT/KR2017/002468
Date de publication : 28.12.2017 Date de dépôt international : 07.03.2017
CIB :
G01R 31/3167 (2006.01), G01R 31/317 (2006.01), G01R 31/40 (2014.01)
Déposants : LG CHEM, LTD. [KR/KR]; 128, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul 07336 (KR)
Inventeurs : KATRAK, Kerfegar K.; (US).
REXHA, Mehdi; (US)
Mandataire : PHIL & ONZI INT'L PATENT & LAW FIRM; 3F., 36 Seochojungang-ro Seocho-gu, Seoul 06643 (KR)
Données relatives à la priorité :
62/352,217 20.06.2016 US
15/249,376 27.08.2016 US
Titre (EN) DIAGNOSTIC SYSTEM FOR DC-DC VOLTAGE CONVERTER
(FR) SYSTÈME DE DIAGNOSTIC POUR CONVERTISSEUR TENSION CONTINUE-TENSION CONTINUE
(KO) DC-DC 전압 컨버터를 위한 진단 시스템
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a diagnostic system for a DC-DC voltage converter. The diagnostic system comprises a first temperature sensor for generating a first output voltage indicating the temperature level of a bi-directional high-voltage MOSFET switch. The diagnostic system comprises a microcontroller for sampling a first output voltage at a first sampling rate by means of a first channel in a bank of first channels so as to acquire a first set number of voltage samples. The microcontroller determines, from among the first set number of voltage samples, a first number of voltage samples having greater first output voltage than a first critical voltage. If the first number is greater than a first critical number indicating an over-heated state of the bi-directional high-voltage MOSFET switch, then the microcontroller configures a first temperature diagnostic flag to be the same as a first error value.
(FR)L'invention concerne un système de diagnostic pour un convertisseur tension continue-tension continue. Le système de diagnostic comprend un premier capteur de température destiné à générer une première tension de sortie indiquant le niveau de température d'un commutateur MOSFET bidirectionnel haute tension. Le système de diagnostic comprend un microcontrôleur destiné à échantillonner une première tension de sortie à une première fréquence d'échantillonnage au moyen d'un premier canal dans une banque de premiers canaux de manière à acquérir un premier nombre défini d'échantillons de tension. Le microcontrôleur détermine, dans le premier nombre défini d'échantillons de tension, un premier nombre d'échantillons de tension ayant une première tension de sortie supérieure à une première tension critique. Si le premier nombre est supérieur à un premier nombre critique indiquant un état de surchauffe du commutateur MOSFET bidirectionnel haute tension, le microcontrôleur configure alors un premier indicateur de diagnostic de température pour qu'il soit identique à une première valeur d'erreur.
(KO)DC-DC 전압 컨버터를 위한 진단 시스템이 제공된다. 상기 진단 시스템은, 고전압 양방향 모스펫 스위치의 온도 레벨을 나타내는 제1 출력 전압을 생성하는 제1 온도 센서를 포함한다. 상기 진단 시스템은, 제1 소정 개수의 전압 샘플들을 획득하기 위해, 제1 채널들의 뱅크 내의 제1 채널을 이용하여 제1 샘플링 레이트로 제1 출력 전압을 샘플링하는 마이크로 컨트롤러를 포함한다. 상기 마이크로 컨트롤러는 제1 소정 개수의 전압 샘플들 중에서 제1 출력 전압이 제1 임계 전압보다 큰 전압 샘플들의 제1 개수를 결정한다. 상기 마이크로 컨트롤러는 제1 개수가 고전압 양방향 모스펫 스위치의 과열 상태를 나타내는 제1 임계 개수보다 큰 경우, 제1 온도 진단 플래그를 제1 오류값과 동일하게 설정한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)