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1. (WO2017221756) SYSTÈME DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE DÉTECTION, ET DISPOSITIF DE DÉTECTION
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N° de publication :    WO/2017/221756    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/021607
Date de publication : 28.12.2017 Date de dépôt international : 12.06.2017
CIB :
G01N 21/27 (2006.01), A01G 7/00 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01)
Déposants : SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1, Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP)
Inventeurs : TAKASHIMA Masatoshi; (JP)
Mandataire : NISHIKAWA Takashi; (JP).
INAMOTO Yoshio; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-123596 22.06.2016 JP
Titre (EN) SENSING SYSTEM, SENSING METHOD, AND SENSING DEVICE
(FR) SYSTÈME DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE DÉTECTION, ET DISPOSITIF DE DÉTECTION
(JA) センシングシステム、センシング方法、及び、センシング装置
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a sensing system, sensing method, and sensing device that make more accurate measurement possible. In this sensing system, a plurality of reference reflection areas having reflectances corresponding to an object to be inspected are prepared for each wavelength band to be sensed for the object to be inspected. When sensing is carried out for an area including the object to be inspected and the reference reflection areas, for each wavelength band to be sensed for the object to be inspected, sensing is carried out for a reference reflection area having a reflectance corresponding to that of the object to be inspected. This invention can be applied to, for example, a system for measuring a vegetation index such as the normalized difference vegetation index (NDVI).
(FR)La présente invention concerne un système de détection, un procédé de détection et un dispositif de détection qui permettent de réaliser une mesure plus précise. Dans ce système de détection, une pluralité de zones de réflexion de référence ayant des réflectances correspondant à un objet à inspecter sont préparées pour chaque bande de longueur d'onde devant être détectée pour l'objet à inspecter. Lorsqu'une détection est effectuée pour une zone comprenant l'objet à inspecter et les zones de réflexion de référence, pour chaque bande de longueur d'onde à détecter pour l'objet à inspecter, la détection est effectuée pour une zone de réflexion de référence ayant un facteur de réflexion correspondant à celui de l'objet à inspecter. Cette invention peut être appliquée, par exemple, à un système de mesure d'un indice de végétation tel que l'indice différentiel normalisé de végétation (NDVI).
(JA)本技術は、より精度の高い測定を行うことができるようにするセンシングシステム、センシング方法、及び、センシング装置に関する。 センシングシステムは、基準反射領域として、検査対象物に対するセンシングの対象となる波長帯ごとに、当該検査対象物に対応した反射率を有する基準反射領域が複数用意され、検査対象物を含む領域と基準反射領域とをセンシングする際に、検査対象物のセンシングの対象となる波長帯ごとに、当該検査対象物に対応した反射率を有する基準反射領域をセンシングする。本技術は、例えば、正規化植生指数(NDVI)等の植生指数を測定するためのシステムに適用することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)