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1. (WO2017221390) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ÉCHANTILLONNAGE OPTIQUE DE MODÈLE DE ROTATION
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N° de publication : WO/2017/221390 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/068751
Date de publication : 28.12.2017 Date de dépôt international : 24.06.2016
CIB :
G01J 11/00 (2006.01) ,G02F 3/00 (2006.01)
Déposants : INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION RESEARCH ORGANIZATION OF INFORMATION AND SYSTEMS[JP/JP]; 10-3 Midori-cho, Tachikawa-shi, Tokyo 1900014, JP
Inventeurs : TAMATE, Shuhei; JP
UTSUNOMIYA, Shoko; JP
Mandataire : OKADA, Kenji; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SPIN-MODEL OPTICAL SAMPLING DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ÉCHANTILLONNAGE OPTIQUE DE MODÈLE DE ROTATION
(JA) スピン模型の光サンプリング装置及び方法
Abrégé : front page image
(EN) The present disclosure is a spin-model optical sampling device Q1 characterized by being provided with: a laser oscillation control unit 1 for controlling the oscillation of a plurality of lasers L that have the same oscillation frequency and are artificially made to correspond to a plurality of spins having phases having continuous values; an interaction implementation unit 2 for artificially implementing the phase and amplitude of the mutual interaction between the plurality of spins by controlling the amplitude and phase of mutual injection between a plurality of lasers L; a temperature implementation unit 2 for artificially implementing the temperatures of a plurality of spin systems by controlling the ratio between the amplitude of mutual injection between the plurality of lasers L and the noise amplitudes of the plurality of lasers L; and a sampling unit 3 for artificially measuring the phases of the plurality of spins at the ground state or an excited state of the plurality of spin systems by measuring the phases of the plurality of lasers L after the interaction and temperature of the plurality of spin systems have been artificially implemented and the plurality of lasers L have reached a steady state.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'échantillonnage optique de modèle de rotation Q1 caractérisé en ce qu'il comporte : une unité de commande d'oscillation laser (1) pour commander l'oscillation d'une pluralité de lasers L qui possèdent la même fréquence d'oscillation et sont artificiellement amenés à correspondre à une pluralité de rotations possédant des phases possédant des valeurs continues ; une unité de mise en œuvre d'interaction (2) pour mettre en œuvre artificiellement la phase et l'amplitude de l'interaction mutuelle entre la pluralité de rotations par commande de l'amplitude et de la phase de l'injection mutuelle entre une pluralité de lasers L ; une unité de mise en œuvre de température (2) pour mettre en œuvre artificiellement les températures d'une pluralité de systèmes de rotation en commandant le rapport entre l'amplitude de l'injection mutuelle entre la pluralité de lasers L et les amplitudes de bruit de la pluralité de lasers L ; et une unité d'échantillonnage (3) pour mesurer artificiellement les phases de la pluralité de rotations à l'état fondamental ou un état excité de la pluralité de systèmes de rotation en mesurant les phases de la pluralité de lasers L après que l'interaction et la température de la pluralité de systèmes de rotation ont été artificiellement mises en œuvre et que la pluralité de lasers L ont atteint un état stable.
(JA) 本開示は、連続値をとる位相を有する複数のスピンに疑似的に対応し同一の発振周波数を有する複数のレーザLの発振を制御するレーザ発振制御部1と、複数のレーザLの間の相互注入の振幅及び位相を制御することにより、複数のスピンの間の相互作用の振幅及び位相を疑似的に実装する相互作用実装部2と、複数のレーザLの間の相互注入の振幅と複数のレーザLの雑音の振幅との間の比率を制御することにより、複数のスピンの系の温度を疑似的に実装する温度実装部2と、複数のスピンの系の相互作用及び温度が疑似的に実装された上で、複数のレーザLが定常状態に到達した後に、複数のレーザLの位相を測定することにより、複数のスピンの系の基底状態又は励起状態での複数のスピンの位相を疑似的に測定するサンプリング部3と、を備えることを特徴とするスピン模型の光サンプリング装置Q1である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)