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1. (WO2017221246) ANALYSEUR XRF POUR IDENTIFIER UNE PLURALITÉ D’OBJETS SOLIDES, SYSTÈME DE TRI ET PROCÉDÉ DE TRI ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/221246    N° de la demande internationale :    PCT/IL2017/050688
Date de publication : 28.12.2017 Date de dépôt international : 21.06.2017
CIB :
G01N 23/223 (2006.01), B07C 5/34 (2006.01)
Déposants : SOREQ NUCLEAR RESEARCH CENTER [IL/IL]; Nahal Soreq 81800 Yavne (IL).
SECURITY MATTERS LTD. [IL/IL]; Kibbutz Ketura 8884000 D.N. Hevel Eilot (IL)
Inventeurs : GROF, Yair; (IL).
KISLEV, Tzemah; (IL).
YORAN, Nadav; (IL).
ALON, Haggai; (IL).
KAPLINSKY, Mor; (IL)
Mandataire : SCHNUR, Myriam; (IL)
Données relatives à la priorité :
62/352,661 21.06.2016 US
Titre (EN) AN XRF ANALYZER FOR IDENTIFYING A PLURALITY OF SOLID OBJECTS, A SORTING SYSTEM AND A SORTING METHOD THEREOF
(FR) ANALYSEUR XRF POUR IDENTIFIER UNE PLURALITÉ D’OBJETS SOLIDES, SYSTÈME DE TRI ET PROCÉDÉ DE TRI ASSOCIÉ
Abrégé : front page image
(EN)The present invention discloses a novel XRF analyzer capable of simultaneously identifying the presence of a marking composition in a plurality of objects by modulating/varying the intensity of the excitation beam on the different objects and measuring the secondary radiation thereof. The XRF analyzer comprises a radiation emitter assembly adapted for emitting at least one X-Ray or Gamma-Ray excitation radiation beam having a spatial intensity distribution for simultaneously irradiating the plurality of objects; a radiation detector for detecting secondary radiation X-Ray signals arriving from a plurality of objects in response to irradiation of the objects by X-Ray or Gamma-Ray radiation, and providing data indicative of spatial intensity distribution of the detected data X-Ray signals on the plurality of objects; and a signal reading processor in communication with the detector, the processor being adapted for receiving and processing the detected response X-Ray signals to verify presence of the marking composition included at least one surface of each object of the plurality objects.
(FR)La présente invention concerne un nouvel analyseur XRF capable d’identifier simultanément la présence d’une composition de marquage dans une pluralité d’objets par modulation/variation de l’intensité du faisceau d’excitation sur les différents objets et mesure du rayonnement secondaire de celui-ci. L’analyseur XRF comprend un ensemble d’émetteur de rayonnement adapté pour émettre au moins un faisceau de rayonnement d’excitation de rayons X ou de rayons gamma ayant une distribution d’intensité spatiale pour irradier simultanément la pluralité d’objets ; un détecteur de rayonnement pour détecter des signaux de rayons X de rayonnement secondaire provenant d’une pluralité d’objets en réponse à l’irradiation des objets par un rayonnement de rayons X ou de rayons gamma, et fournir des données indicatives de la distribution d’intensité spatiale des signaux de rayons X de données détectés sur la pluralité d’objets ; et un processeur de lecture de signal en communication avec le détecteur, le processeur étant adapté pour recevoir et traiter les signaux de rayons X de réponse détectés afin de vérifier la présence de la composition de marquage dans au moins une surface de chaque objet de la pluralité d’objets.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)