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1. (WO2017220537) PROCEDE D'ESTIMATION D'UNE DIRECTION D'ORIENTATION ABSOLUE D'UN SYSTEME OPTRONIQUE
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N° de publication :    WO/2017/220537    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/065025
Date de publication : 28.12.2017 Date de dépôt international : 20.06.2017
CIB :
G01C 9/00 (2006.01), G01C 17/38 (2006.01), G01S 5/16 (2006.01)
Déposants : THALES [FR/FR]; TOUR CARPE DIEM Place des Corolles Esplanade Nord 92400 COURBEVOIE (FR)
Inventeurs : SIMON, Alain; (FR)
Mandataire : HENRIOT, Marie-Pierre; (FR).
ESSELIN, Sophie; (FR)
Données relatives à la priorité :
1600986 21.06.2016 FR
Titre (EN) METHOD OF ESTIMATING A DIRECTION OF ABSOLUTE ORIENTATION OF AN OPTRONIC SYSTEM
(FR) PROCEDE D'ESTIMATION D'UNE DIRECTION D'ORIENTATION ABSOLUE D'UN SYSTEME OPTRONIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method of estimating bearing of an optronic system in a geographical reference frame, the optronic system being situated at a first position and referred to as first optronic system. It comprises the following steps: - defining a collaborative configuration, - by means of the first optronic system and of at least one other optronic system, said optronic systems being respectively situated at distinct positions and equipped with inter-communication means, and with acquisition devices, - acquiring in a scene one or more objects common to said optronic systems, the direction of orientation between each optronic system and each object being unknown, - determining two positions from among those of said optronic systems, - for at least one common object: ∙ measuring the relative angle by means of a relative angle measurement device fitted to the first optronic system, ∙ measuring the elevation of the object by means of an elevation measurement device fitted to the first optronic system, ∙ carrying out additional measurements by means of each other optronic system, - the two positions and said measurements constituting observations, communication by the other optronic system or systems to the first optronic system of the observations which it does not have at its disposal, - on the basis of the observations, estimation by the first optronic system, of the bearing of the first optronic system.
(FR)L'invention concerne un procédé d'estimation de gisement d'un système optronique dans un repère géographique, le système optronique étant situé à une première position et désigné premier système optronique. Il comporte les étapes suivantes : - définir une configuration collaborative, - au moyen du premier système optronique et d'au moins un autre système optronique, lesdits systèmes optroniques étant respectivement situés en des positions distinctes et équipés de moyens de communication entre eux, et de dispositifs d'acquisition, acquérir dans une scène un ou plusieurs objets communs auxdits systèmes optroniques, la direction d'orientation entre chaque système optronique et chaque objet étant inconnue, - déterminer deux positions parmi celles desdits systèmes optroniques, - pour au moins un objet commun : ∙ mesurer l'angle relatif au moyen d'un dispositif de mesure d'angle relatif équipant le premier système optronique, ∙ mesurer l'élévation de l'objet au moyen d'un dispositif de mesure d'élévation équipant le premier système optronique, ∙ réaliser des mesures supplémentaires au moyen de chaque autre système optronique, - les deux positions et lesdites mesures constituant des observations, communication par l'autre (ou les autres) système(s) optronique(s) au premier système optronique des observations dont il ne dispose pas, - à partir des observations, estimation par le premier système optronique, du gisement du premier système optronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)