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1. (WO2017216778) PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR MESURER LA QUALITÉ DE FAISCEAU D'UN FAISCEAU LASER
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N° de publication : WO/2017/216778 N° de la demande internationale : PCT/IB2017/053624
Date de publication : 21.12.2017 Date de dépôt international : 19.06.2017
CIB :
G01J 1/42 (2006.01) ,H01S 3/00 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITY OF THE WITSWATERSRAND, JOHANNESBURG[ZA/ZA]; 1 Jan Smuts Avenue, Braamfontein 2001 Johannesburg, ZA
Inventeurs : FORBES, Andrew; ZA
Mandataire : PILLAY, Vishen; ZA
Données relatives à la priorité :
2016/0428217.06.2016ZA
Titre (EN) A METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING BEAM QUALITY OF A LASER BEAM
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR MESURER LA QUALITÉ DE FAISCEAU D'UN FAISCEAU LASER
Abrégé : front page image
(EN) This invention relates to a method of and a system for determining a beam quality factor (VQF) of a beam of light having a transverse electric field that may be scalar, vector, or a combination thereof, wherein the VQF is a measure of the degree of vectorness of the beam of light varying between pure scalar and pure vector. The beam is typically a laser beam, wherein the method comprises receiving an input laser beam to be analysed and splitting the received beam of light into two orthogonal components. A predetermined number of modes or states per orthogonal component is then detected and an on axis intensity of each detected mode or state detected is measured. The measured intensities is then used to calculate the VQF in terms using at least one quantum mechanical entanglement measure.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un système pour déterminer un facteur de qualité de faisceau (VQF) d'un faisceau de lumière qui présente un champ électrique transversal qui peut être scalaire, vectoriel, ou une association de ceux-ci, le VQF étant une mesure du degré de vectorisation du faisceau de lumière qui varie entre un scalaire pur et un vecteur pur. Le faisceau est typiquement un faisceau laser, le procédé comprenant la réception d'un faisceau laser d'entrée destiné à être analysé et la division du faisceau de lumière reçu en deux composantes orthogonales. Un nombre prédéterminé de modes ou d'états par composante orthogonale est ensuite détecté et une intensité sur axe de chaque mode ou état détecté est mesurée. Les intensités mesurées sont ensuite utilisées pour calculer le VQF en termes d'au moins une mesure d'enchevêtrement mécanique quantique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)