Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2017215316) CIRCUIT DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE RECONNAISSANCE D'ÉLÉMENTS STRUCTURELS ET SUBSTRAT D'AFFICHAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/215316 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/078937
Date de publication : 21.12.2017 Date de dépôt international : 31.03.2017
CIB :
G09G 3/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
09
ENSEIGNEMENT; CRYPTOGRAPHIE; PRÉSENTATION; PUBLICITÉ; SCEAUX
G
DISPOSITIONS OU CIRCUITS POUR LA COMMANDE DE L'AFFICHAGE UTILISANT DES MOYENS STATIQUES POUR PRÉSENTER UNE INFORMATION VARIABLE
3
Dispositions ou circuits de commande présentant un intérêt uniquement pour l'affichage utilisant des moyens de visualisation autres que les tubes à rayons cathodiques
Déposants :
京东方科技集团股份有限公司 BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; 中国北京市 朝阳区酒仙桥路10号 No. 10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015, CN
北京京东方光电科技有限公司 BEIJING BOE OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国北京市 经济技术开发区西环中路8号 No.8 Xihuanzhong Rd., BDA Beijing 100176, CN
Inventeurs :
丁小梁 DING, Xiaoliang; CN
董学 DONG, Xue; CN
王海生 WANG, Haisheng; CN
陈小川 CHEN, Xiaochuan; CN
刘英明 LIU, Yingming; CN
杨盛际 YANG, Shengji; CN
Mandataire :
北京律智知识产权代理有限公司 BEIJING INTELLEGAL INTELLECTUAL PROPERTY AGENT LTD.; 中国北京市 朝阳区慧忠路5号远大中心B座1802、1803、1805 1802, 1803, 1805 Tower B, Grand Place, No 5 Huizhong Road, Chaoyang District Beijing 100101, CN
Données relatives à la priorité :
201610439882.017.06.2016CN
Titre (EN) DETECTION CIRCUIT, STRUCTURAL FEATURE RECOGNITION METHOD AND DISPLAY SUBSTRATE
(FR) CIRCUIT DE DÉTECTION, PROCÉDÉ DE RECONNAISSANCE D'ÉLÉMENTS STRUCTURELS ET SUBSTRAT D'AFFICHAGE
(ZH) 检测电路、结构特征的识别方法及显示基板
Abrégé :
(EN) A detection circuit, structural feature recognition method and display substrate, the detection circuit being used for recognizing a feature structure to be recognized, and the detection circuit comprising: an induction sub-circuit (100) and a processing sub-circuit (200). The induction sub-circuit (100) is used for outputting, to the processing sub-circuit (200), a first signal containing only noise information of the induction sub-circuit (100), and the induction sub-circuit (100) is also used for sensing the feature structure to be recognized to acquire a second signal containing information pertaining to the feature structure to be recognized, and outputting, to the processing sub-circuit (200), a third signal including the first signal and the second signal. The processing sub-circuit (200) is used for differencing the first signal and the third signal so as to output the second signal. By means of the detection circuit, the accuracy of feature recognition can be improved.
(FR) L'invention concerne un circuit de détection, un procédé de reconnaissance d'éléments structurels et un substrat d'affichage. Le circuit de détection sert à reconnaître une structure à éléments à reconnaître, et comprend : un sous-circuit à induction (100) et un sous-circuit de traitement (200). Le sous-circuit à induction (100) permet d'émettre, vers le sous-circuit de traitement (200), un premier signal contenant uniquement des informations de bruit du sous-circuit à induction (100), et le sous-circuit à induction (100) permet également de détecter la structure à éléments à reconnaître afin d'acquérir un deuxième signal contenant des informations relatives à la structure à éléments à reconnaître, et d'émettre, vers le sous-circuit de traitement (200), un troisième signal comprenant le premier et le deuxième signal. Le sous-circuit de traitement (200) est destiné à différencier le premier et le troisième signal de manière à émettre le deuxième signal. Le circuit de détection permet d'améliorer la précision de la reconnaissance d'éléments.
(ZH) 一种检测电路、结构特征的识别方法及显示基板,所述检测电路,用于识别待识别特征结构,检测电路包括:感应子电路(100)和处理子电路(200);感应子电路(100)用于向处理子电路(200)输出只包含感应子电路(100)的噪声信息的第一信号,感应子电路(100)还用于感应待识别特征结构,得到包含待识别特征结构信息的第二信号,并向处理子电路(200)输出包含第一信号和第二信号的第三信号,处理子电路(200)用于对第一信号和第三信号进行求差处理,以输出第二信号。该检测电路能够提高特征识别的准确度。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)