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1. (WO2017213722) DIRECTEUR DE FAISCEAU HAUTE PERFORMANCE POUR SYSTÈMES LASER À PUISSANCE ÉLEVÉE OU D'AUTRES SYSTÈMES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/213722    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/019350
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 24.02.2017
CIB :
G01S 17/66 (2006.01), F41H 13/00 (2006.01), G01S 7/481 (2006.01), G01S 7/497 (2006.01), G02B 26/06 (2006.01)
Déposants : RAYTHEON COMPANY [US/US]; 870 Winter Street Waltham, Massachusetts 02451-1449 (US)
Inventeurs : SITTER, JR., David N.; (US).
MARRON, Joseph; (US).
HALMOS, Maurice J.; (US).
ICHKHAN, Joseph J.; (US).
GRAYER, Justin S.; (US).
ERTEN, Gamze; (US)
Mandataire : DOYLE, David M.; (US).
MUNCK, William A.; (US)
Données relatives à la priorité :
15/176,009 07.06.2016 US
Titre (EN) HIGH-PERFORMANCE BEAM DIRECTOR FOR HIGH-POWER LASER SYSTEMS OR OTHER SYSTEMS
(FR) DIRECTEUR DE FAISCEAU HAUTE PERFORMANCE POUR SYSTÈMES LASER À PUISSANCE ÉLEVÉE OU D'AUTRES SYSTÈMES
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus includes a wavefront sensor (109, 111, 203-208, 210-214, 305-309, 402-404) configured to receive coherent flood illumination (105) that is reflected from a remote object (101) and to estimate wavefront errors associated with the coherent flood illumination. The apparatus also includes a beam director (202, 215, 410-422, 802, 804) optically coupled to the wavefront sensor and having a telescope (215, 406-408) and an auto-alignment system (202). The auto-alignment system is configured to adjust at least one first optical device (410-422, 802, 804) in order to alter a line-of-sight of the wavefront sensor. The wavefront errors estimated by the wavefront sensor include a wavefront error resulting from the adjustment of the at least one first optical device. The beam director could further include at least one second optical device (410-422, 802, 804) configured to correct for the wavefront errors. The at least one second optical device could include at least one deformable mirror.
(FR)La présente invention concerne un appareil comprenant un capteur de front d'onde (109, 111, 203-208, 210-214, 305-309, 402-404) configuré pour recevoir un éclairage indirect cohérent (105) qui est réfléchi par un objet à distance (101) et pour estimer des erreurs de front d'onde associées à l'éclairage indirect cohérent. L'appareil comprend également un directeur de faisceau (202, 215, 410-422, 802, 804)couplé optiquement au capteur de front d'onde et possédant un télescope (215, 406-408) et un système d'auto-alignement (202). Le système d'auto-alignement est configuré pour régler au moins un premier dispositif optique (410-422, 802, 804) afin de modifier une ligne de visée du capteur de front d'onde. Les erreurs de front d'onde estimées par le capteur de front d'onde comprennent une erreur de front d'onde résultant du réglage du ou des premiers dispositifs optiques. Le directeur de faisceau pourrait en outre comprendre au moins un second dispositif optique (410-422, 802, 804) configuré pour corriger les erreurs de front d'onde. Le ou les seconds dispositifs optiques peuvent comprendre au moins un miroir déformable.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)