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1. (WO2017213470) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE TEST PRÉNATAL NON INVASIF BASÉ SUR DES SCORES Z MULTIPLES

Pub. No.:    WO/2017/213470    International Application No.:    PCT/KR2017/006048
Publication Date: Fri Dec 15 00:59:59 CET 2017 International Filing Date: Sat Jun 10 01:59:59 CEST 2017
IPC: G06F 19/18
G06F 19/24
C12Q 1/68
Applicants: EONE DIAGNOMICS GENOME CENTER CO., LTD
이원다이애그노믹스(주)
Inventors: LEE, Min Seob
이민섭
SHIN, Shang Cheol
신상철
LEE, Sung Hoon
이성훈
KWON, Hyuk Jung
권혁중
Title: PROCÉDÉ ET APPAREIL DE TEST PRÉNATAL NON INVASIF BASÉ SUR DES SCORES Z MULTIPLES
Abstract:
La présente invention concerne un procédé de test prénatal non invasif et, plus particulièrement, un procédé visant à améliorer la sensibilité et la précision de tests prénataux non invasifs en appliquant des valeurs seuils multidimensionnelles fondées sur des scores Z multiples. Conçu pour réduire la possibilité de faux positifs et de faux négatifs par application d'au moins deux valeurs de seuil de score Z à la détection de l'aneuploïdie concernant un seul chromosome, le procédé de test prénatal non invasif selon la présente invention a pour effet l'obtention d'un résultat de test plus sensible et plus précis. En outre, le procédé peut réduire au minimum les erreurs de test malgré l'utilisation d'un petit nombre de fragments de séquences nucléotidiques, avec pour effet résultant la réduction des coûts expérimentaux et, donc, des coûts élevés des tests, et la mise en œuvre rapide d'un test pour un coût faible.