Mobile |
Deutsch |
English |
Español |
日本語 |
한국어 |
Português |
Русский |
中文 |
العربية |
PATENTSCOPE
Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
Options
Recherche
Résultats
Interface
Office
Traduction
Langue d'interrogation
Bulgare
Laotien
Roumain
allemand
anglais
arabe
chinois
coréen
danois
espagnol
estonien
français
hébreu
indonésien
italien
japonais
polonais
portugais
russe
suédois
thaï
toutes
vietnamien
Stemming/Racinisation
Trier par:
Pertinence
Date de pub. antichronologique
Date de pub. chronologique
Date de demande antichronologique
Date de demande chronologique
Nombre de réponses par page
10
50
100
200
Langue pour les résultats
Langue d'interrogation
anglais
espagnol
coréen
vietnamien
hébreu
portugais
français
allemand
japonais
russe
chinois
italien
polonais
danois
suédois
arabe
estonien
indonésien
thaï
Bulgare
Laotien
Roumain
Champs affichés
Numéro de la demande
Date de publication
Abrégé
Nom du déposant
Classification internationale
Image
Nom de l'inventeur
Tableau/Graphique
Tableau
Graphique
Regroupement
*
Aucun
Offices of NPEs
Code CIB
Déposants
Inventeurs
Dates de dépôt
Dates de publication
Pays
Nombre d'entrées par groupe
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
Download Fields
NPEs
Page de recherche par défaut
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Champ de recherche par défaut
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Langue de l'interface
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
Interface multi-fenêtres
Bulle d'aide
Bulles d'aide pour la CIB
Instant Help
Expanded Query
Office:
Tous
Tous
PCT
Afrique
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO)
Égypte
Kenya
Maroc
Tunisie
Afrique du Sud
Amérique
États-Unis d'Amérique
Canada
LATIPAT
Argentine
Brésil
Chili
Colombie
Costa Rica
Cuba
Rép. dominicaine
Équateur
El Salvador
Guatemala
Honduras
Mexique
Nicaragua
Panama
Pérou
Uruguay
Asie-Europe
Australie
Bahreïn
Chine
Danemark
Estonie
Office eurasien des brevets (OEAB)
Office européen des brevets (OEB
France
Allemagne
Allemagne (données RDA)
Israël
Japon
Jordanie
Portugal
Fédération de Russie
Fédération de Russie (données URSS)
Arabie saoudite
Émirats arabes unis
Espagne
Rép. de Corée
Inde
Royaume-Uni
Géorgie
Bulgarie
Italie
Roumanie
République démocratique populaire lao
Asean
Singapour
Viet Nam
Indonésie
Cambodge
Malaisie
Brunei Darussalam
Philippines
Thaïlande
WIPO translate (Wipo internal translation tool)
Recherche
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Expansion de requête multilingue
Composés chimiques (connexion requise)
Options de navigation
Recherche par semaine (PCT)
Archive Gazette
Entrées de Phase National
Téléchargement intégral
Téléchargement incrémental (7 derniers jours)
Listages de séquences
L’inventaire vert selon la CIB
Portail d'accès aux registres de brevets nationaux
Traduction
WIPO Translate
WIPO Pearl
Quoi de neuf
Quoi de neuf sur PATENTSCOPE
Connexion
ui-button
Connexion
Créer un compte
Options
Options
Aide
ui-button
Comment rechercher
Guide d'utilisation PATENTSCOPE
Guide d'utilisation: Recherche multilingue
User Guide: ChemSearch
Syntaxe de recherche
Définition des champs
Code pays
Données disponibles
Demandes PCT
Entrée en phase nationale PCT
Collections nationales
Global Dossier public
FAQ
Observations et contact
Codes INID
Codes de type de document
Tutoriels
À propos
Aperçu
Avertissement & Conditions d'utilisation
Clause de non-responsabilité
Accueil
Services
PATENTSCOPE
Traduction automatique
Wipo Translate
arabe
allemand
anglais
espagnol
français
japonais
coréen
portugais
russe
chinois
Google Translate
Bing/Microsoft Translate
Baidu Translate
arabe
anglais
français
allemand
espagnol
portugais
russe
coréen
japonais
chinois
...
Italian
Thai
Cantonese
Classical Chinese
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter à
Observations et contact
1. (WO2017213171) APPAREIL DE DÉTECTION D'INFORMATIONS OPTIQUES ET SYSTÈME DE MICROSCOPE
Données bibliographiques PCT
Texte intégral
Dessins
Phase nationale
Notifications
Documents
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international
Formuler une observation
Lien permanent
Lien permanent
Ajouter aux favoris
N° de publication :
WO/2017/213171
N° de la demande internationale :
PCT/JP2017/021138
Date de publication :
14.12.2017
Date de dépôt international :
07.06.2017
CIB :
G02B 21/06
(2006.01) ,
G01N 21/17
(2006.01) ,
G01N 21/64
(2006.01) ,
G02B 21/36
(2006.01)
G
PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
06
Moyens pour éclairer un échantillon
G
PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
G
PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
G
PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
36
aménagés pour la photographie ou la projection
Déposants :
国立大学法人東北大学 TOHOKU UNIVERSITY
[JP/JP]; 宮城県仙台市青葉区片平二丁目1番1号 2-1-1, Katahira, Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9808577, JP
Inventeurs :
小澤 祐市 KOZAWA Yuichi
; JP
Mandataire :
棚井 澄雄 TANAI Sumio
; JP
飯田 雅人 IIDA Masato
; JP
及川 周 OIKAWA Shu
; JP
Données relatives à la priorité :
2016-113770
07.06.2016
JP
Titre
(EN)
OPTICAL INFORMATION DETECTION APPARATUS AND MICROSCOPE SYSTEM
(FR)
APPAREIL DE DÉTECTION D'INFORMATIONS OPTIQUES ET SYSTÈME DE MICROSCOPE
(JA)
光学情報検知装置及び顕微鏡システム
Abrégé :
(EN)
This optical information detection apparatus 50 is provided with: a needle-like spotlight irradiation unit 10 that generates a needle-like spotlight L1 converging within a length dimension g, which is larger than a width dimension w, along an optical axis A1; a shifted-spotlight conversion unit 30 that converts radiated light emitted from positions P1, P2, P3 of an object S to be detected into shifted spotlights L2; a shifted-spotlight reception unit 40 that receives the shifted spotlights L2 along a light reception surface M; and an optical information acquisition unit 48 that acquires optical information at the positions P1, P2, P3 from the shifted spotlights L2.
(FR)
Un appareil de détection d'informations optiques 50 selon la présente invention est pourvu : d'une unité d'irradiation de projecteur de type aiguille qui génère un projecteur de type aiguille qui converge dans la longueur g, qui est plus grande que la largeur w, le long d'un axe optique a1; une unité de conversion de projecteur de décalage 30 qui convertit la lumière émise par les positions P1, P2, et P3 d'un objet à détecter dans un spot de décalage L2; une unité de réception de projecteur de décalage 40 qui reçoit le projecteur de décalage L2 le long d'une surface de réception de lumière M; et une unité d'acquisition d'informations optiques qui acquiert des informations optiques concernant les positions P1, P2 et P3 à partir du spot de déplacement L2.
(JA)
本発明に係る光学情報検知装置50は、光軸A1に沿って幅寸法wよりも大きい長さ寸法gに亘り集光されているニードル状スポット光L1を生成するニードル状スポット光照射部10と、検知対象物Sの位置P1,P2,P3から発せられた出射光をシフトスポット光L2に変換するシフトスポット光変換部30と、受光面Mに沿ってシフトスポット光L2を受光するシフトスポット光受光部40と、シフトスポット光L2から位置P1,P2,P3の光学情報を取得する光学情報取得部48と、を備えている。
États désignés :
AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication :
japonais (
JA
)
Langue de dépôt :
japonais (
JA
)