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1. (WO2017212921) SYSTÈME D'ENDOSCOPIE ET ENDOSCOPE
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N° de publication : WO/2017/212921 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/019358
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 24.05.2017
CIB :
A61B 1/00 (2006.01) ,G02B 23/24 (2006.01) ,G02B 23/26 (2006.01)
Déposants : OLYMPUS CORPORATION[JP/JP]; 2951, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
Inventeurs : FUJII, Toshiyuki; JP
Mandataire : SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE; Toranomon Mitsui Building, 8-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013, JP
Données relatives à la priorité :
2016-11349607.06.2016JP
Titre (EN) ENDOSCOPY SYSTEM AND ENDOSCOPE
(FR) SYSTÈME D'ENDOSCOPIE ET ENDOSCOPE
(JA) 内視鏡システムおよび内視鏡
Abrégé : front page image
(EN) Provided are an endoscopy system and endoscope that accurately measure the temperature of a distal end and precisely control the temperature of an optical member, and allow for the distal end to be reduced in diameter. The endoscopy system according to the present application is characterized by comprising: an optical member positioned at a distal end; a heating part 13 for heating the optical member; a first temperature-detecting part 11 for detecting temperature information for the distal end; a second temperature-detecting part 12, connected in parallel with the heating part 13, for detecting temperature information for the distal end; a control part 43 for controlling the heating part 13 on the basis of the temperature information for the distal end as detected by the first temperature-detecting part 11; and an anomaly-identifying part 42 for identifying anomalies in the first temperature-detecting part 11 and the second temperature-detecting part 12 on the basis of the temperature information for the distal end as detected by the first temperature-detecting part 11 and the temperature information for the distal end as detected by the second temperature-detecting part 12.
(FR) La présente invention concerne un système d'endoscopie et un endoscope qui mesurent avec précision la température d'une extrémité distale et commande de manière précise la température d'un élément optique, et permet à l'extrémité distale d'être réduite en diamètre. Le système d'endoscopie selon la présente demande est caractérisé en ce qu'il comprend : un élément optique positionné au niveau d'une extrémité distale; une pièce chauffante (13) pour chauffer l'élément optique; une première pièce de détection de température (11) pour détecter l'information de température pour l'extrémité distale; une seconde pièce de détection de température (12), connectée en parallèle à la pièce chauffante (13), pour détecter l'information de température pour l'extrémité distale; une pièce de commande (43) pour commander la pièce chauffante (13) sur la base de l'information de température pour l'extrémité distale telle que détectée par la première pièce de détection de température (11); et une pièce d'identification d'anomalie (42) pour identifier les anomalies dans la première pièce de détection de température (11) et la seconde pièce de détection de température (12) sur la base de l'information de température pour l'extrémité distale telle que détectée par la première pièce de détection de température (11) et l'information de température pour l'extrémité distale telle que détectée par la seconde pièce de détection de température (12).
(JA) 先端部の温度を正確に測定し、光学部材を精度よく温度制御するとともに、先端部の細径化を可能とする内視鏡システムおよび内視鏡を提供する。本発明における内視鏡システムは、先端部に位置する光学部材と、前記光学部材を加熱する加熱部13と、先端部の温度情報を検出する第1温度検出部11と、加熱部13と並列に接続され、先端部の温度情報を検出する第2温度検出部12と、第1温度検出部11が検出した先端部の温度情報に基づき、加熱部13を制御する制御部43と、第1温度検出部11が検出した先端部の温度情報、および第2温度検出部12が検出した先端部の温度情報に基づき、第1温度検出部11および第2温度検出部12の異常を判定する異常判定部42と、を備えることを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)