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1. (WO2017212786) DISPOSITIF DE CAPTEUR ET SON PROCÉDÉ DE CORRECTION
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N° de publication :    WO/2017/212786    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/015350
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 14.04.2017
CIB :
G01H 17/00 (2006.01), G01P 15/097 (2006.01)
Déposants : TLV CO.,LTD. [JP/JP]; 881 Nagasuna, Noguchicho, Kakogawa-shi, Hyogo 6758511 (JP)
Inventeurs : OIZUMI Akira; (JP)
Mandataire : TERAZONO Kenichi; (JP).
KAWABE Daisuke; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-113369 07.06.2016 JP
Titre (EN) SENSOR DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING SENSOR
(FR) DISPOSITIF DE CAPTEUR ET SON PROCÉDÉ DE CORRECTION
(JA) センサ装置及びセンサの補正方法
Abrégé : front page image
(EN)A sensor device 100 is provided with: a sensor 2, which has a first piezoelectric element 25a and a second piezoelectric element 25b, and which detects vibration of a subject to be measured; and a correction unit 510 that corrects detection results from the sensor 2. The correction unit 510 corrects the detection results on the basis of the inherent frequency characteristics of the sensor 2.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de capteur 100 qui est pourvu : d'un capteur 2, qui possède un premier élément piézoélectrique 25a et un second élément piézoélectrique 25b, et qui détecte les vibrations d'un sujet devant être mesuré ; d'une unité de correction 510 qui corrige les résultats de détection obtenus du capteur 2. L'unité de correction 510 corrige les résultats de détection sur la base des caractéristiques de fréquence inhérentes du capteur 2.
(JA)センサ装置100は、第1圧電素子25a及び第2圧電素子25bを有し、測定対象物の振動を検出するセンサ2と、センサ2からの検出結果を補正する補正部510とを備え、補正部510は、検出結果をセンサ2の固有の周波数特性に基づいて補正する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)