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1. (WO2017212718) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULES, ET PROCÉDÉ DE NETTOYAGE DE CELUI-CI
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N° de publication : WO/2017/212718 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/008877
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 07.03.2017
CIB :
G01N 15/14 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
10
Recherche de particules individuelles
14
Recherche par des moyens électro-optiques
Déposants :
ソニー株式会社 SONY CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南1丁目7番1号 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
Inventeurs :
酒井 啓嗣 SAKAI Yoshitsugu; JP
阿部 正昭 ABE Masaaki; JP
月原 浩一 TSUKIHARA Koichi; JP
秋山 昭次 AKIYAMA Shoji; JP
長谷川 真一 HASEGAWA Shinichi; JP
Mandataire :
渡邊 薫 WATANABE Kaoru; JP
Données relatives à la priorité :
2016-11669310.06.2016JP
Titre (EN) FINE PARTICLE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD FOR CLEANING FINE PARTICLE MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULES, ET PROCÉDÉ DE NETTOYAGE DE CELUI-CI
(JA) 微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置の洗浄方法
Abrégé :
(EN) The principal purpose of the present technology is to provide a technology capable of reducing contamination risk. To this end, the present technology provides a fine particle measurement device having at least a photoirradiation unit for emitting light at fine particles to be analyzed, a photodetection unit for detecting light produced by the fine particles at a prescribed detection location, and an analysis unit that analyzes the detected value of the light detected by the photodetection unit, and is connected to the photodetection unit, wherein the photodetection unit is capable of moving from the detection position.
(FR) L’invention a pour objet de fournir une technique permettant de réduire les risques de contamination. À cet effet, l’invention fournit un dispositif de mesure de microparticules qui possède au moins : une partie irradiation lumineuse qui irradie des microparticules faisant l’objet d’une analyse au moyen d’une lumière ; une partie détection de lumière qui détecte une lumière générée par lesdites microparticules en une position de détection prédéfinie ; et une partie analyse qui est connectée à ladite partie détection de lumière, et qui analyse la valeur de détection de la lumière détectée par ladite partie détection de lumière. Ladite partie détection de lumière peut se déplacer de ladite position de détection.
(JA) 本技術では、コンタミネーションのリスクを低減可能な技術を提供することを主目的とする。 これに対し、本技術では、分析対象となる微小粒子に対して光を照射する光照射部と、前記微小粒子から生じる光を所定の検出位置で検出する光検出部と、前記光検出部と接続され、前記光検出部で検出した光の検出値を解析する解析部と、を少なくとも有し、前記光検出部は、前記検出位置より移動可能である微小粒子測定装置を提供する。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)