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1. (WO2017212000) GRILLE D'ANALYSE DESTINÉE À UNE IMAGERIE À CONTRASTE DE PHASE ET/OU UNE IMAGERIE SUR FOND NOIR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/212000    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/064048
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 08.06.2017
CIB :
G21K 1/02 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven (NL)
Inventeurs : KOEHLER, Thomas; (NL).
STEADMAN BOOKER, Roger; (NL).
SIMON, Matthias; (NL).
RUETTEN, Walter; (NL).
WIECZOREK, Herfried, Karl; (NL)
Mandataire : VERSTEEG, Dennis, John; (NL).
DE HAAN, Poul, Erik; (NL)
Données relatives à la priorité :
16173558.4 08.06.2016 EP
Titre (EN) ANALYZING GRID FOR PHASE CONTRAST IMAGING AND/OR DARK-FIELD IMAGING
(FR) GRILLE D'ANALYSE DESTINÉE À UNE IMAGERIE À CONTRASTE DE PHASE ET/OU UNE IMAGERIE SUR FOND NOIR
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to an analyzing grid for phase contrast imaging and/or dark-field imaging, a detector arrangement for phase contrast imaging and/or dark-field imaging comprising such analyzing grid, an X-ray imaging system comprising such detector arrangement, a method for manufacturing such analyzing grid, a computer program element for controlling such analyzing grid or detector arrangement for performing such method and a computer readable medium having stored such computer program element. The analyzing grid comprises a number of X-ray converting gratings. The X-ray converting gratings are configured to convert incident X-ray radiation into light or charge. The number of X-ray converting gratings comprises at least a first X-ray converting grating and a second X-ray converting grating. Further, the X-ray converting gratings each comprise an array of grating bars, wherein the grating bars within each X-ray converting grating are arranged mutually displaced from each other in a direction perpendicular to the incident X-ray radiation by a specific displacement pitch. Further, the grating bars of the first X-ray converting grating are arranged mutually displaced from the grating bars of the second X-ray converting grating in the direction perpendicular to the incident X-ray radiation by the displacement pitch divided by the number of X-ray converting gratings.
(FR)L'invention concerne une grille d'analyse destinée à une imagerie à contraste de phase et/ou une imagerie sur fond noir, un agencement de détecteur destiné à une imagerie à contraste de phase et/ou une imagerie sur fond noir comprenant une telle grille d'analyse, un système d'imagerie à rayons X comprenant un tel agencement de détecteur, un procédé de fabrication d'une telle grille d'analyse, un élément de programme informatique destiné à la commande d'une telle grille d'analyse ou d'un tel agencement de détecteur destiné à la mise en œuvre d'un tel procédé et un support lisible par ordinateur comportant un tel élément de programme informatique stocké. La grille d'analyse comprend un certain nombre de réseaux de conversion de rayons X. Les réseaux de conversion de rayons X sont conçus pour convertir le rayonnement X incident en lumière ou charge. Le nombre de réseaux de conversion de rayons X comprend au moins un premier réseau de conversion de rayons X et un second réseau de conversion de rayons X. En outre, les réseaux de conversion de rayons X comprennent chacun une matrice de barres de réseau, les barres de réseau à l'intérieur de chaque réseau de conversion de rayons X étant décalées les unes des autres dans une direction perpendiculaire au rayonnement X incident d'un pas de décalage spécifique. En outre, les barres de réseau du premier réseau de conversion de rayons X sont décalées les unes des autres par rapport aux barres de réseau du second réseau de conversion de rayons X dans la direction perpendiculaire au rayonnement X incident du pas de décalage divisé par le nombre de réseaux de conversion de rayons X.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)