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1. (WO2017211742) AGENCEMENT DE CAPTEUR OPTIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DUDIT AGENCEMENT DE CAPTEUR OPTIQUE
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N° de publication :    WO/2017/211742    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/063555
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 02.06.2017
CIB :
G01S 17/10 (2006.01), G01S 7/481 (2006.01), G01S 7/497 (2006.01)
Déposants : AMS AG [AT/AT]; Schloss Premstätten Tobelbader Str. 30 8141 Premstätten (AT)
Inventeurs : ETSCHMAIER, Harald; (AT).
MINIXHOFER, Rainer; (AT).
RÖHRER, Georg; (AT)
Mandataire : EPPING HERMANN FISCHER PATENTANWALTSGESELLSCHAFT MBH; Schloßschmidstr. 5 80639 München (DE)
Données relatives à la priorité :
16173353.0 07.06.2016 EP
Titre (EN) OPTICAL SENSOR ARRANGEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING AN OPTICAL SENSOR ARRANGEMENT
(FR) AGENCEMENT DE CAPTEUR OPTIQUE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DUDIT AGENCEMENT DE CAPTEUR OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An optical sensor arrangement for time-of- flight comprises a first and a second cavity (C1, C2) separated by an optical barrier (B) and covered by a cover arrangement (CA). An optical emitter (E) is arranged in the first cavity (C1), a measurement and a reference photodetector are arranged in the second cavity (C2). The cover arrangement (CA) comprises a plate (CP) and layers of material (LY) arranged on an inner main surface (SI) thereof. The layers (LY) comprise an opaque coating (OC) with a first and second aperture (A1, A2) above the first cavity (C1), and with a third and fourth aperture (A3, A4) above the second cavity (C2). The measurement photodetector (PM) is configured to detect light entering the second cavity (C2) through the fourth aperture (A4). The second and the third aperture (A2, A3) establish a reference path for light from the emitter (E) to the reference photodetector (PR).
(FR)La présente invention concerne un agencement de capteur optique pour temps de vol. Ledit agencement comprend une première cavité et une seconde cavité (C1, C2) séparées par une barrière optique (B) et couvertes par un agencement couvercle (CA). Un émetteur optique (E) est agencé dans la première cavité (C1), un photodétecteur de mesure et un photodétecteur de référence sont agencés dans la seconde cavité (C2). L'agencement couvercle (CA) comprend une plaque (CP) et des couches de matériau (LY) agencées sur une surface principale intérieure (SI) de celle-ci. Les couches (LY) comprennent un revêtement opaque (OC) comprenant des première et deuxième ouvertures (A1, A2) au-dessus de la première cavité (C1), ainsi que des troisième et quatrième ouvertures (A3, A4) au-dessus de la seconde cavité (C2). Le photodétecteur de mesure (PM) est conçu pour détecter de la lumière qui entre dans la seconde cavité (C2) par l'intermédiaire de la quatrième ouverture (A4). Les deuxième et troisième ouvertures (A2, A3) établissent un trajet de référence pour la lumière allant de l'émetteur (E) vers le photodétecteur de référence (PR).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)