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1. (WO2017211071) PROCÉDÉ DE PRÉDICTION DE TEMPÉRATURE ET APPAREIL ASOCIÉ
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N° de publication : WO/2017/211071 N° de la demande internationale : PCT/CN2016/113219
Date de publication : 14.12.2017 Date de dépôt international : 29.12.2016
CIB :
G01K 13/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
K
MESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
13
Adaptations de thermomètres à des buts spécifiques
Déposants :
广州视源电子科技股份有限公司 GUANGZHOU SHIYUAN ELECTRONICS CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省广州市 黄埔区云埔四路6号 No. 6, 4th Yunpu Road, Huangpu District Guangzhou, Guangdong 510530, CN
Inventeurs :
高平东 GAO, Pingdong; CN
Mandataire :
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80 Xian Lie Zhong Road, Yuexiu District Guangzhou, Guangdong 510070, CN
Données relatives à la priorité :
201610395672.606.06.2016CN
Titre (EN) TEMPERATURE PREDICTION METHOD AND APPARATUS THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE PRÉDICTION DE TEMPÉRATURE ET APPAREIL ASOCIÉ
(ZH) 预测温度的方法及其装置
Abrégé :
(EN) Disclosed are a temperature prediction method and apparatus. The method comprises: sampling a measured temperature of an object being measured at a fixed time frequency so as to obtain a measured temperature of the object being measured detected at each sampling point from the current sampling point to the Mth previous sampling point, and dividing the measured temperatures into N groups of measured temperature data (S1); for each group of measured temperature data, calculating a slope of a line of best fit of a temperature vs. time curve formed by the group of measured temperature data (S2); if the slopes of the lines of best fit of the N groups of measured temperature data meet a prediction condition, calculating a predicted incremental temperature of the object being measured at the current sampling point according to an increment prediction model (S3); and calculating a predicted temperature of the object being measured at the current sampling point according to a measured temperature and the predicted incremental temperature of the object being measured at the current sampling point as well as a predicted temperature at the previous sampling point (S4). The technical solution of the present invention can accelerate temperature measurement processes and has high interference resistance.
(FR) L’invention concerne un procédé et un appareil de prédiction de température. Le procédé comprend les étapes suivantes : échantillonner une température mesurée d'un objet mesuré à une fréquence temporelle fixée de manière à obtenir une température mesurée de l'objet mesuré détectée à chaque point d'échantillonnage, depuis le point d'échantillonnage actuel jusqu'au Mième point d'échantillonnage précédent, et diviser les températures mesurées en N groupes de données de températures mesurées (S1) ; pour chaque groupe de données de températures mesurées, calculer une pente d'une ligne de meilleur ajustement d'une courbe de température en fonction du temps formée par le groupe de données de températures mesurées (S2) ; si les pentes des lignes de meilleur ajustement des N groupes de données de températures mesurées satisfont à une condition de prédiction, calculer une température incrémentale prédite de l'objet mesuré au point d'échantillonnage actuel en fonction d'un modèle de prédiction incrémental (S3) ; et calculer une température prédite de l'objet mesuré au point d'échantillonnage actuel en fonction d'une température mesurée et de la température incrémentale prédite de l'objet mesuré au point d'échantillonnage actuel ainsi qu'une température prédite au point d'échantillonnage précédent (S4). La solution technique de la présente invention peut accélérer des processus de mesure de température et présente une résistance aux interférences élevée.
(ZH) 一种预测温度的方法及装置,该方法包括:以固定频率采样被测物体的实测温度,获取在当前采样点到过去的第M个采样点之间的每一个采样点上检测到的被测物体的实测温度,并划分成N组实测温度数据(S1);对于每一组实测温度数据,计算由该组实测温度数据组成的温度随时间变化曲线的拟合直线斜率(S2);当所述N组实测温度数据的拟合直线斜率满足预测条件时,根据预测增量模型计算所述被测物体在当前采样点的预测增量温度(S3);根据所述被测物体在当前采样点的实测温度和预测增量温度、以及在上一个采样点的预测温度,计算所述被测物体在当前采样点的预测温度(S4)。该技术方案能加快温度的测量,且抗干扰能力强。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)