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1. (WO2017209675) CORRECTION ET DÉTECTION D'ÉLÉMENTS CAPTEURS CAPACITIFS DÉFECTUEUX D'UN CAPTEUR D'EMPREINTES DIGITALES
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N° de publication : WO/2017/209675 N° de la demande internationale : PCT/SE2017/050510
Date de publication : 07.12.2017 Date de dépôt international : 16.05.2017
CIB :
G06K 9/00 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
K
RECONNAISSANCE DES DONNÉES; PRÉSENTATION DES DONNÉES; SUPPORTS D'ENREGISTREMENT; MANIPULATION DES SUPPORTS D'ENREGISTREMENT
9
Méthodes ou dispositions pour la lecture ou la reconnaissance de caractères imprimés ou écrits ou pour la reconnaissance de formes, p.ex. d'empreintes digitales
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants :
FINGERPRINT CARDS AB [SE/SE]; Box 2412 403 16 Göteborg, SE
Inventeurs :
BELLIER, Thierry; DK
LALIBERTÉ, France; DK
Mandataire :
KRANSELL & WENNBORG KB; Box 2096 403 12 GÖTEBORG, SE
Données relatives à la priorité :
1650743-630.05.2016SE
Titre (EN) CORRECTION AND DETECTION OF DEFECTIVE CAPACITIVE SENSOR ELEMENTS OF A FINGERPRINT SENSOR
(FR) CORRECTION ET DÉTECTION D'ÉLÉMENTS CAPTEURS CAPACITIFS DÉFECTUEUX D'UN CAPTEUR D'EMPREINTES DIGITALES
Abrégé :
(EN) A method of correcting charge values acquired from a capacitive fingerprint sensor, comprising acquiring a list (304) of one or more defective capacitive sensor elements and for defective capacitive sensor element in the list (304), selecting its position as a first position and: - performing a first operation (313) by placing a first filter window about the first position and computing a replacement value for the first position from charge values within the first filter window, but forgoing computing a replacement value for the first position in case a first threshold number of defective capacitive sensor elements located within the first filter window is exceeded; - in case the first operation (313) forgo computing a replacement value for the first position, performing a second operation (314) by placing a second filter window about the first position and computing a replacement value for the first position from charge values within the second filter window, but forgoing computing a replacement value for the first position in case a second threshold number of defective capacitive sensor elements located within the second filter window is exceeded; wherein the second filter window has a wider expanse than the first filter window.
(FR) L'invention concerne un procédé de correction de valeurs de charge acquises à partir d'un capteur d'empreintes digitales capacitif, comprenant l'acquisition d'une liste (304) d'un ou de plusieurs éléments capteurs capacitifs défectueux et, pour un élément capteur capacitif défectueux dans la liste (304), la sélection de sa position en tant que première position et : réalisation d'une première opération (313) en plaçant une première fenêtre de filtre autour de la première position et en calculant une valeur de remplacement pour la première position à partir des valeurs de charge à l'intérieur de la première fenêtre de filtre, mais renoncement au calcul d'une valeur de remplacement pour la première position dans le cas où un premier nombre seuil d'éléments capteurs capacitifs défectueux situés à l'intérieur de la première fenêtre de filtre est dépassé ; dans le cas où la première opération (313) renonce à calculer une valeur de remplacement pour la première position, réalisation d'une deuxième opération (314) en plaçant une deuxième fenêtre de filtre autour de la première position et en calculant une valeur de remplacement pour la première position à partir des valeurs de charge à l'intérieur de la deuxième fenêtre de filtre, mais renoncement au calcul d'une valeur de remplacement pour la première position dans le cas où un deuxième nombre seuil d'éléments capteurs capacitifs défectueux situés à l'intérieur de la deuxième fenêtre de filtre est dépassé. La deuxième fenêtre de filtre présente une étendue plus large que la première fenêtre de filtre.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)