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1. (WO2017208937) DISPOSITIF DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES DE RÉFLEXION
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N° de publication :    WO/2017/208937    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/019395
Date de publication : 07.12.2017 Date de dépôt international : 24.05.2017
CIB :
G01N 21/57 (2006.01), G01J 3/50 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01)
Déposants : KONICA MINOLTA, INC. [JP/JP]; 2-7-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1007015 (JP)
Inventeurs : KAWANO, Toshio; (JP).
KAWASAKI, Takashi; (JP)
Mandataire : KOTANI, Etsuji; (JP).
KOTANI, Masataka; (JP).
SAKURAI, Satoshi; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-108282 31.05.2016 JP
Titre (EN) REFLECTION CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CARACTÉRISTIQUES DE RÉFLEXION
(JA) 反射特性測定装置
Abrégé : front page image
(EN)This reflection characteristic measuring device includes a diffuse reflecting surface, and employs a plurality of optical systems having mutually different geometries to measure a plurality of mutually different types of reflection characteristic, wherein the measured reflection characteristics are corrected using an error generated when light emitted from an object of measurement is reflected from the diffuse reflecting surface and illuminates the object of measurement. The reflection characteristic measuring device according to the present invention is therefore capable of reducing errors resulting from recursive diffused illumination.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure de caractéristiques de réflexion qui comprend une surface de réflexion diffuse, et utilise une pluralité de systèmes optiques ayant des géométries mutuellement différentes pour mesurer une pluralité de types mutuellement différents de caractéristiques de réflexion, les caractéristiques de réflexion mesurées étant corrigées au moyen d'une erreur générée lorsque la lumière émise par un objet de mesure est réfléchie par la surface de réflexion diffuse et éclaire l'objet de mesure. Le dispositif de mesure de caractéristiques de réflexion selon la présente invention est, par conséquent, capable de réduire des erreurs résultant d'un éclairage diffus récursif.
(JA)本発明の反射特性測定装置は、拡散反射面を含み、互いに異なるジオメトリの複数の光学系を用いることによって、互いに異なる複数種類の反射特性を測定する装置であって、測定対象から放射された光が前記拡散反射面で反射されて前記測定対象を照明することによって生じる誤差で、測定される前記反射特性を補正する。したがって、本発明の反射特性測定装置は、再帰拡散照明による誤差を低減できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)